中古 ELECTROGLAS 4085X #9106475 を販売中

ELECTROGLAS 4085X Proberは、半導体デバイスをテストするための高度なプログラマブルプロービングプラットフォームです。具体的には、ウェーハの抵抗、静電容量、電圧などの電気特性を最大28の位置で同時に測定することができます。Proberの幅広い機能により、アセンブリ前テストから本番ワークフローまで、さまざまなアプリケーションのテストに最適です。プローバーは、信頼性と正確なプロービングのための柔軟なトップダウン設計を備えています。ユニークな「イジェクト」機能により、プローブは、プロシージャを妨害したり、パラメータのいずれかを妨害することなく、アクティブ化および非アクティブ化することができます。Proberの包括的な制御機能とユーザーフレンドリーなインターフェースにより、非常に使いやすく、プログラムも簡単です。この高度なプローバーは、サポートされているオプションのソフトウェア製品を通じて、高度なプロービング機能と精度をユーザーに提供します。4085X Proberは、統合されたローディング装置でさまざまなウェーハサイズと厚さに対応できます。プローバーは、6軸ガントリー式モーションコントロールシステムで高い安定性と精度を保証します。内蔵のビジョンユニットにより、大型ダイサイズでもプローブを正確に配置できます。さらに、この機械のプローブ補償は、個々のダイをテストする際に驚くほどの精度と信頼性を提供します。ELECTROGLAS 4085X Proberは、試験結果を正確に分析するための革新的なオンボード統計パッケージも備えています。この機能セットには、パターン認識、データ分析、および自動欠陥検出が含まれます。これらの機能は、各ダイの欠陥や収差を瞬時にフィードバックすることができ、ユーザーはできるだけ早くパフォーマンスを最適化するために試験を調整することができます。このツールはまた、長期的な情報の保存を可能にする内部メモリを備えています。プローバーはプロービングからアセンブリへのテストに、プロセス制御のフルレンジのために設計されています。4085X Proberは、高密度半導体デバイスを迅速に処理するために不可欠なツールであり、独自または大量の試験ニーズに最適です。このプローバは、手動構成と自動化された構成の両方で利用でき、汎用性の高い資産となっています。