中古 ELECTROGLAS 4085 #9400275 を販売中

製造業者
ELECTROGLAS
モデル
4085
ID: 9400275
Prober Chuck material: Ni Chuck type: Ambient Z-Resolution: 0.25 mil No flat panel display Options: OCR Tester interface: GPIB Ethernet interface No PTPA No PTPO No PMI No IDI No STAA No WSSC No APCC.
ELECTROGLAS 4085は、ELECTROGLASによって設計および製造された自動ウェーハプローバーです。これは、一般的に、半導体業界では、包装段階の前後に、集積回路やベアダイの試験および測定に使用されます。4085は、-20°Cから+200°Cまで動作可能な360°回転ヘッドとサーマルチャックを備えた円形プローブカードを備えています。また、多層基板の工具交換が容易な汎用性の高いインデックスメカニズムを備えています。高精度で再現性の高いドライブモータは、10ミクロン以上の精度でインデックス作成が可能です。プローバは標準的なウェーハサイズを200mmから300mmまで測定することができ、さまざまなデバイスをテストすることができます。ELECTROGLAS 4085は「クリーンルーム」に準拠した環境で設計されており、高付加価値の製品や構造物を保護し、高感度プロセスに最適です。また、デバイスの形状とリファレンスイメージを比較して、デバイスの自動アライメントをテストできる高度なビジョンシステムを搭載しています。ユーザビリティとスループットを向上させるために、4085 proberは包括的な印刷とスキャン機能をサポートしています。ELECTROGLAS 4085は、テスト対象のデバイスに物理的に接触するために、バネ式の電気プローブを使用して、さまざまなコンタクトパッドをテストできます。リボンからピン、ULTプローブ、GPプローブまで、さまざまなサイズの針を使用できます。最後に、1秒あたり最大10,000ポイントの優れたスキャン速度により、信頼性と正確なテストが可能になります。4085自動化されたproberは、半導体製造のすべての段階における量産テストに理想的なソリューションであり、C4、 BGA、フリップチップなどのさまざまなタイプの集積回路をより高いレベルの精度と再現性でテストできます。その多様な機能と柔軟なモジュラー設計を組み合わせることで、信頼性と再現性の高いテストプロセスを求める大容量ユーザーに最適です。
まだレビューはありません