中古 ELECTROGLAS 4080X #9107138 を販売中

ELECTROGLAS 4080Xは、大容量の集積回路（IC）テスト用に設計された洗練された強力なプローバです。4080Xは、低コストから高複雑度まで、幅広いIC製品を正確にテストすることができます。このプローバには、プローブとICの間の正確な接触を確保するための高度な電気プロービングメカニズムが装備されています。プローバは、切替可能な交換可能なフォースドライブ（IFD）システムを採用しており、異なるテスト要件に応じてさまざまなプロービング構成を可能にします。さらに、プローバーは、テストの精度を大幅に向上させる革新的な機能のスイートを誇っています。地上平面干渉の影響を最小限に抑えるためのディザーシェイクテーブルと、最高精度を保証する99点校正を備えた高速光学位置決めシステムを備えています。このプローバは、外部テストステーションに接続したり、ビンタイプ間で迅速かつ簡単にスワップすることができ、高速なテストと高い柔軟性を可能にします。ELECTROGLAS 4080Xは、印象的なユーザーエクスペリエンスも備えています。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）は、テストプログラムの設定、実行、および監視のための使いやすいプラットフォームを提供します。各プローバーには、迅速で信頼性の高いテストシーケンスを可能にするトリガリングシステムが装備されており、設計により部品の自動ロード、アンロード、アライメントが可能です。これにより、オペレータの疲労を軽減し、動作を高速化します。4080Xは、SOIC （150および200 mils）、 SOT （240 mils）、 DIP （330 mils）、およびQFN/MLF （90 mils）のいろいろなICフォーマットをテストすることができます。DCから12 GHzまでの幅広いテスト周波数をサポートするように設計されており、高周波デバイスのテストに適しています。さらに、プローバには最大8つの並列テスターを装備して、テストスループットを最大化できます。ELECTROGLAS 4080Xは、大量のIC試験に適した信頼性と汎用性の高いプローバです。そのユニークな機能と堅牢な構造により、今日の複雑で要求の厳しいIC試験要件のニーズを満たすことができます。実験室でも生産環境でも、このプローバーはあらゆるアプリケーションに信頼性、正確性、スピードをもたらします。