中古 ELECTROGLAS 3001X #144185 を販売中

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製造業者
ELECTROGLAS
モデル
3001X
ID: 144185
ウェーハサイズ: 8"
Prober, 8" 8" Chuck Microscope not included.
ELECTROGLAS 3001X Proberは、半導体チップおよび電気機械デバイスの精密プロービング用に設計された完全自動試験装置です。これは、さまざまなアプリケーションにわたって、集積回路やその他の小規模装置のさまざまなテストと検査を実行するために使用されます。3001X Proberはモジュラー設計に基づいており、ユーザーは特定の要件に合わせてシステムをカスタマイズできます。操作コンソールとメインフレーム制御ユニットを備えており、ユーザーインターフェイス制御とデータストレージを提供します。Proberは、オプションのアクセサリと、デバイス全体の幅広いテストポイントにアクセスできる自動化された複数のアームロボットで構成できます。ELECTROGLAS 3001X Proberの高度なシステム設計技術は、幅広いチップ密度とプロセスの複雑さにわたって効率的なテストを提供します。高精度の電圧曲線、電流レベル測定、高速スイッチングシーケンス、回路整合性スキャンなどを実行するために使用できます。このシステムは1ミクロンの分解能と0。5ミクロンの再現性を備えており、試験結果の完全な制御と精度を可能にします。Proberはまた最適な熱条件のテストの下で装置を維持できる統合された環境の部屋を含んでいます。また、3D顕微鏡を備えており、ユーザーはテスト中のデバイスの状態を検査することができ、プロービングニードルによって印加された圧力を調整する統合された決定ネットワークを提供します。3001X Proberには高度なデータ分析パッケージもあり、ユーザーはテストの結果を視覚化して解釈することができます。それはまた、他のさまざまな試験および処理システムと統合することができます。これにより、テストプロセスを合理化し、継続的な運用を保証します。全体として、ELECTROGLAS 3001X Proberは半導体業界で使用するために設計された信頼性の高い高精度プローバです。これは、ユーザーが正確かつ効率的な検査および検査プロセスを実行できるようにする幅広い機能と技術を備えています。
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