中古 ELECTROGLAS 3001 #9071364 を販売中

ELECTROGLAS 3001 Proberは、半導体故障解析（FA）アプリケーションで使用される特殊なテストプラットフォームです。この最先端のシステムは、セットアップが迅速で使いやすいコンパクトで完全に統合された設計を特徴としています。3001は、ワイヤーボンド、フリップチップ、およびマイクロエレクトロメカニカルシステム（MEMS）を含むあらゆるサイズまたはタイプのデバイスを自動的にプローブすることができます。堅牢な構造を持ち、高い信頼性、柔軟性、拡張性を提供します。ELECTROGLAS 3001 Proberは高い生産性のために設計され、ユーザーが彼らのテスト効率を最大にするのを助けるために機能の広い範囲を提供します。長期間にわたる温度や湿度の変化にかかわらず、サンプルのずれを修正することができる長期安定性が重要な特徴の1つです。また、自動焦点調整とデジタルズームオプションの機能を提供しています。さらに、プログラムされたマクロを介してX-Y-thetaステージを制御できるため、異なるプローブカード間の切り替えが容易になります。3001のさまざまなコンポーネントには、基地局、絶縁ワークテーブル、可変プローブ、X-Yシータ段、およびその他のさまざまな関連電子機器が含まれます。ベースステーションには、制御システム、ハードウェア、およびソフトウェアが含まれています。絶縁されたワークテーブルはテストの下でユーザーおよび装置の安全を保障します。可変プローブは、さまざまなタイプのデバイスのプロービングを可能にします。X-Y-thetaステージは、テストに精密かつ再現可能なモーションコントロールを提供し、セットアップ時間を短縮し、精度を向上させます。最後に、電源、信号増幅器、オシロスコープなどの関連する電子機器を使用して、テストプロセス中に得られた信号を解釈します。ELECTROGLAS 3001 Proberは極度な正確さおよび堅牢性のために設計されています。自動キャリブレーションプロセスを備えており、複数のテストサイクルにわたって一貫したパフォーマンスを保証します。また、電源測定値のわずかな変更でも測定できるため、電源検証テストにも最適です。さらに、3001 Proberには特別な自動機能が装備されており、テスト（DUT）特性下のデバイスの迅速かつ効率的なトラブルシューティングを可能にします。結論として、ELECTROGLAS 3001 Proberは、半導体の故障解析のための汎用性と信頼性の高いツールです。コンパクトな設計と自動化された機能により、迅速なセットアップと効率的なテスト作業が可能です。3001 Proberは、長期的な安定性と高度な機能により、幅広いデバイスのテストに理想的なソリューションを提供します。