中古 ELECTROGLAS 2010X #132668 を販売中

ELECTROGLAS 2010Xは、半導体エンジニアリングおよび製造試験に使用されるプローバです。集積回路、ウェーハ、デバイス、RTD（放射線処理ダイ）、その他の幅広い試験プロセスの製造に使用される自動接触テストプローバです。このプローバは、正確なプロービング精度で高いスループットレートを実現するように設計されています。2010Xにテストの間に使用されるより少ない力を可能にするカンチレバーテストヘッドが接触のテスト結果の正確さそして信頼性を高めますあります。Proberには、グラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）、ボタン、ロータリースイッチ、ジョグホイールで構成された直感的なユーザーフレンドリーなインターフェースがあり、ユーザーは簡単にProberを制御できます。GUIには、保存されたテストパターンのライブラリがあり、イメージング機能やテスト結果のリアルタイム監視など、さまざまな機能を提供します。このプローバは、デュアル周波数DCパラメトリック測定機能を備えており、信頼性の高いDCテストを実行することができます。また、低周波電気検査システムであるLoFESを搭載しており、低状態での誤差を検知することができます。さらに、4チャンネルのシングルピン駆動試験機能があり、ユーザーは同じテストヘッドで複数のピンをメッシュする必要がある複雑なテストシナリオを実行できます。ELECTROGLAS 2010XはPEC （Probing Equipment Check）とSMART （Self-Monitoring and Reporting Technology）に準拠しており、ユーザーは指定されたパラメータ内にあることを確認するためにテスト結果を簡単に監視できます。オンボードの温度制御機能と、ユーザーのニーズに応じて簡単にプログラムできる多言語制御ディスプレイを備えています。プローバーは頑丈なデザインで、頑丈なスチールとアルミニウムフレームを備えており、耐久性を高め、寿命を延ばすのに役立ちます。このプローバには、静電放電（ESD）イベントを低減する方法と、高品質のアクティブコンポーネントとパッシブコンポーネントがあり、すべてが潜在的な損傷、汚染、または性能低下からデバイスを保護します。全体として、2010Xは非常に信頼性が高く、高精度で機能豊富なプローバであり、半導体業界で高いスループットと複雑な接触試験を行うのに最適です。その優れた精度と信頼性により、信頼性の高い試験結果と高い生産歩留まりを必要とする人に最適です。