中古 ELECTROGLAS 2010CX #9292719 を販売中

ELECTROGLAS 2010CX proberは、電子デバイスの電気的および物理的パラメータを測定するために使用される高度な多機能ツールです。主に半導体デバイス、有機材料、および集積回路（IC）をテストするように設計されています。この装置は高速スキャンコンデンサとプローブヘッドを備えており、迅速なプロービング機能と正確なパラメータ測定を提供します。プローバーにはレーザーアライメントシステムも含まれており、プローブチップの正確な配置を保証します。2010CX proberは毎秒100から200の測定を実行でき、1ナノ秒以内に精度を維持します。プローバーには、複数の測定を同時に行うことができる高度なデジタル処理ユニットが装備されています。これにより、両方のデバイスポートで同時にテストを行うことができ、従来のシングルチャネルシステムと比較してより正確な測定が可能になります。プローバーには高感度分解能制御ユニットが搭載されており、プローブヘッドのアライメントを微調整することができ、正確な測定のためのプローブの正確な位置決めが可能です。また、温度制御および温度補償センサを内蔵しており、熱膨張基準の誤差からの保護を可能にします。さらに、ELECTROGLAS 2010CXはオンザフライテストもサポートし、テスト中に影響を受けた場合でも正確な測定を保証します。Proberは、リモートコンピュータから操作することも、Proberの直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を使用してローカルでプログラムすることもできます。ユーザーインターフェイスは、英語、中国語、日本語でテストスクリプトやパラメータを表示し、様々な言語に対応しています。2010CXは、追加機能のための信号発生器やオシロスコープなどの他の試験装置と統合することができます。標準の組み込みプログラム開発環境により、ユーザー定義のプログラムをproberに簡単に追加できます。ELECTROGLAS 2010CXは、優れた性能と精度を提供する堅牢なツールです。多機能な設計により、さまざまな測定機能が可能で、半導体デバイスや集積回路のテストに最適なソリューションです。さらに、アセットの直感的なユーザーインターフェイスにより、簡単なカスタマイズとプログラミングが可能で、ユーザーに多目的で強力なテストソリューションを提供します。