中古 ELECTROGLAS 2010CX #9250118 を販売中

ELECTROGLAS 2010CXは、自動半導体テストとデバッグ用に設計されたハイエンドのウェーハプローバです。Proberには、さまざまな材料で部品レベル分析を行うことができる強力な回路内試験（ICT）装置が含まれています。また、複数の入出力（I/O）構成オプションを備えており、幅広い産業およびアプリケーション要件に合わせて調整することができます。2010CXは、オートビジョンユニットと手動スキャンコントロールマシンを備えたユニークな「デュアルコントロール」オートフォーカスシステムを備えています。このデュアルコントロールツールにより、プローバは関心のある小さな領域に正確に焦点を合わせることができ、サブミクロンコンポーネントをテストする際の精度が向上します。また、プローブのパラメータを手動で操作することなく、プローバのフォーカスを素早く調整することも可能です。このデバイスには、さまざまな接触および非接触試験方法も含まれています。光学プローブアレイを使用して、高解像度の接触測定と直接および間接測定を行うことができます。また、ピンフォームピン、歩留まり、故障、パワーオンテスト、コンフォーマルコーティング試験を行うこともできます。接触方法は、監視と制御のための複数のチャネルを含む回路内テスト資産によって強化されています。ELECTROGLAS 2010CXは、優れた信頼性と再現性の向上を目的に設計されています。さまざまな試験を同時に制御できる堅牢なPLCを搭載しています。その他の機能には、ユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイス、デジタルフィードバックディスプレイ、モデルステータスインジケータなどがあります。テスト結果は自動的かつ安全にオンボードデータベースに保存されます。2010CXは、ロジック、DRAM、フラッシュなど、さまざまな半導体技術と互換性があります。また、3。3v、 5v、 12vなどの業界標準の信号レベルにも対応しています。テストプローブは静的および衝撃に耐えるように構築されていますが、正確な結果が得られます。Proberは、使用中に最適な性能を確保するために、さまざまな安全テストに合格しています。全体として、ELECTROGLAS 2010CXは高度なICTおよび非接触試験およびデバッグアプリケーション向けに設計された高性能で自動化されたプローバです。二重制御装置、試験方法の範囲および信頼できる部品によって、それはいろいろな企業の使用のための貴重な用具です。