中古 ELECTROGLAS 2010CX #9236746 を販売中

ELECTROGLAS 2010CXは、半導体デバイスのパラメータを測定するように設計された20Mil容量タイプのウェーハプローバです。コンデンサの厚さと漏れを正確に測定し、キャパシタンスマッチングとデバイスコントラストのテストを行うことができる高度で効率的な試験装置です。2010CXは、高付加価値、超薄いゲート酸化技術で使用するために設計されています。それは非常に小さい区域の正確な容量の測定を保障するように設計されています。それは信号を送り出し、次に容量レベルの徴候を受け取ることによって働きます。このシステムには、導電性ゲート漏れを直接検出できる最先端の信号調整および解析モジュールが装備されています。オープンアーキテクチャと使いやすいグラフィカルインターフェイスを備えています。テストを開始するには6ステップ、測定結果を分析するには5ステップが必要です。機械はまた、デバイスの効率的なロードとアンロードを可能にする自動ロードボード処理ツールと統合されています。このアセットは、1 femtoFaradの解像度と1％の精度でテストすることができます。ELECTROGLAS 2010CXは、ウェーハプローバとテストエンジニアに理想的なツールです。これは、製造のプロセスの変化により欠落する可能性のある静電容量レベルの微妙なシフトをすばやく特定する機能を備えています。精度、信頼性、使いやすさを向上させ、高効率で信頼性の高い半導体デバイス試験装置となっています。