中古 ELECTROGLAS 2001XA #9170435 を販売中

ELECTROGLAS 2001XA Proberは、最大300mmの半導体ウェーハをプロービングできる先進的な半導体ウェーハプロービング装置です。堅牢な2001Xプラットフォーム上に構築された2001XAは、高度な診断、ソフトウェア、プロービング機能を備えているため、より小さなウェーハとより高いダイ数を扱うチップメーカーにとって理想的な選択肢です。ELECTROGLAS 2001XAは、電気および物理プロービングアームの両方を備えており、ユーザーは電気測定をトリガーする前に、ウェーハ上の個々のダイを正確に配置して接触することができます。2001XAの高度な設計により、接触と非接触の2種類のプローブを使用することができます。接触プロービングは、特殊なプローブを使用して、金型厚などの金型の物理的特性を分析することができます。非接触型プロービングにより、ウェハ回路の電気特性評価が可能です。ELECTROGLAS 2001XA Proberは、大型ウェーハのプロービングにおいて業界をリードする再現性と精度を提供します。また、拡張性と使いやすさのために設計および構築されています。2001XAのプローブコントロールソフトウェア（PCS）により、ユーザーはウェーハとダイサイズをすばやく切り替えることができ、プロービングプロセス自体を厳密に制御できます。ELECTROGLAS 2001XAは、2001XA-U真空チャッキングシステムとも互換性があり、プロービングプロセス中にウェーハの直接真空接触を可能にします。これにより、プロービングプロセス中にウェーハが破損する可能性が低減され、高品質の結果が保証されます。ELECTROGLAS 2001XAは、幅広い診断機能を備えています。高度なミックスシグナル診断は、他のほとんどのプローバーからより高いレベルにそれを置きました。このユニットの高速トランジェントメモリにより、ウェーハあたり1100万個以上のトランジェントサンプルを分析できます。光反射測定機能は、2Dと3Dの両方で金型表面トポロジーを検出し、より良い接触忠実性を提供します。2001XAの高度なアルゴリズムは、ウエハレベルのダイからダイへのパラメーターの不一致と回路性能も検出します。要するに、ELECTROGLAS 2001XA Proberは、半導体ウェーハのテストとプローブ用に設計された先進的な機械です。高度な機能と内蔵の診断機能を提供します。また、拡張性に優れており、使いやすさを考慮して設計されています。