中古 ELECTROGLAS 2001XA #293592413 を販売中

ELECTROGLAS 2001XA proberは、半導体試験および製品開発業界で一般的に使用される高性能ツールです。このツールは、フルウェーハプロービングと特定のダイプロービングの両方が可能です。それは電気刺激、テストおよび分析を容易にするのに精密線形ドライブおよび特許を取られた高出力スキャン検出回路が付いている単一ヘッド、高速手動proberを使用します。2001XAは動的スキャン検出機能を備え、柔軟なレシピ開発環境を提供します。また、高精度リニアドライブ、高解像度X-Yステージ、内蔵パワーモニタリング、プロファイル、シグマ、デルタ測定機能を含む包括的なデータ分析を備えています。プローバは、200mm〜300mmウェーハ、フレックス回路、MEMおよびMCMパッケージのアナログ、デジタル、ミックスドシグナルデバイスをプロービングできます。ユーザーは、バーンイン試験、デバイス特性評価および仕様試験、ビットエラーレート試験、静的および動的ロジックテスト、高周波測定、パラメトリックチェックなど、さまざまなアプリケーションにELECTROGLAS 2001XAを使用できます。プローバーは高解像度のXYステージを備えており、小さなパターンを正確に配置することができます。また、特許取得済みのスキャン検出回路を使用して、高速電流および電圧ドライバの早期適応を実現しています。これは、プローブの速度よりも高速なスキャンを必要とするデバイスにとって有利です。2001XAはまた、ユーザーインターフェイスに統合されたオンボードデータ管理ソフトウェアを備えており、ユーザーは保存されたデータにすばやくアクセスできます。この装置は、振動や動きに強い耐久性のあるグラファイト基盤を備えた、最先端の設計で構成されています。さらにシステムの安定性を確保するために、ELECTROGLAS 2001XA proberは高精度のリニアドライブ、低重心、低背高さを利用しています。2001XAは、ウェーハプロービング時間を短縮し、試験効率を向上させるように設計されています。その高さ調節可能なメカニズムは、さまざまなウェーハとパッケージ間のテストをより簡単にすることができます。プローバーには、強制空気循環と高流量のサーマルセンサーを提供してパフォーマンスを最大化することにより、ピーク性能を保証する熱管理ユニットも付属しています。ELECTROGLAS 2001XAは、さまざまな機能と機能を備えた優れた機械であり、より高い精度とより良い試験性能を保証します。そのハイエンド設計は、さまざまな半導体試験アプリケーションやデバイス試験に対応しているため、ウェーハプロービングに最適です。