中古 ELECTROGLAS 2001 #9372657 を販売中

ELECTROGLAS 2001 proberは、拡張された機能セットと高度なウェーハプロービング用の本格的な統合測定ボードを備えた高性能、低周波モジュラープローバ装置です。このシステムは、DC、 AC、およびMixed-Signal技術をテストすることができ、HDI （High Density Interconnects）を念頭に置いて設計されたパッドアレイを介してプロービングするためのユニークなソリューションを提供します。2001年のproberは電子設計オートメーション（EDA）、半導体の製造業、自動車、医学、電気通信、および航空宇宙を含むいろいろな企業のサーキットボードのテストのために必要とされる厳密な調査の条件を満たすように設計されています。ELECTROGLAS 2001 proberは、独自の低電圧、高精度、ナノボルトメーター測定ボードなどの最新の技術とコンポーネントを使用して、デバイス試験の精度と精度を保証します。このボードには、高出力デバイスを測定するための1000V DC電源、調整可能な0-1アンプ電流源、ACおよびDC電圧測定用の2つの仮想チャネル電圧計、およびI2CおよびSPI通信用の4つのデュアルチャネルデジタル信号処理DSPボードが含まれています。2001 proberはまた部品テストの最高精度を保障するために2段階の電気試験プロセスを特色にします。第1段階では最大1,000ボルトの塩基電流プロービングが、第2段階ではそれぞれ40kHz、 2kHz、 0。5 kHzの二重電流インジェクション・プロービングが行われます。この2段階のテストプロセスは、異なるメディアタイプによって引き起こされる遅延やタイムアウトが発生している場合でも、コンポーネントの高精度と信頼性を確保するのに役立ちます。ELECTROGLAS 2001 proberでは、クイックパラメータ設定用の自動ベーステストセットアップも提供しています。このセットアップ機能は、より正確な測定が必要な低周波信号を測定する場合に特に役立ちます。さらに、自動化されたセットアップにより、手動テストの必要性がなくなり、全体的な運用効率が向上します。2001 proberは3つまで等温テストシステムを管理できる高度の熱管理機能が装備されています。これにより、複数のテストコンフィギュレーションを同時に実行でき、テストプロセス全体に必要な時間を大幅に短縮できます。さらに、熱管理機能は、ユニットが毎回同じ条件で動作できるため、テスト結果が再現可能であることも保証します。ELECTROGLAS 2001 proberは、DC、 AC、およびMixed-Signal回路をピンポイント精度で測定できる高度なウェーハプローブ機です。このツールは、最先端の技術を使用して、テスト部品の最高の信頼性、正確性、および効率を保証します。さらに、自動化されたセットアップおよび熱管理機能により、2001年のProberは高周波部品テストに最適です。