中古 ELECTROGLAS 2001 #9372656 を販売中

ELECTROGLAS 2001は、主に統合されたマイクロサーキットおよびその他の電子部品の非破壊試験および故障解析に使用される先進的な半導体プローブです。それは専門の電子実験室の使用のために設計され、1980年代半ば以来あります。2001年は光学および電気接触の技術を使用して半導体の要素を正確に調査し、測定できる完全に自動化された装置です。電気特性評価、断面解析、故障検出、コンポーネント追跡など、さまざまなテストを実行できます。高度に開発され、統合された制御ソフトウェアを通じて、システムは、コンポーネントの広い範囲でさまざまなテストを実行することができます。このユニットは柔軟で調整可能なマルチプローブヘッドアセンブリを備えており、さまざまな種類のコンポーネントをテストできます。また、ダイナミックなX-Yドライブマシンを搭載しており、ファインピッチZの高さ制御と連動し、ナノメートル精度のプローブの精密な高さ調整を可能にします。さらに、このツールは高速スキャン機能を備えており、複雑なVLSI回路の周辺回路を体系的に検索および識別することができます。ELECTROGLAS 2001には、チャネル抵抗/利得、トランスコンダクタンス/キャパシタンス、ジャンクション漏れなどの試験で優れた性能をユーザーに提供することを目的としたさまざまな測定アクセサリーも装備されています。このアセットは非接触プロービングにも使用でき、ユーザーは物理的な接触をせずに作業できます。また、従来のプローブからオプションのレーザーおよび音響プローブに簡単に切り替えることができる独自の適応機能を備えています。2001年は、テストおよび診断機能に加えて、データマップ、3D回路など、さまざまな可視化および分析属性も提供しています。これにより、回路構造、挙動、その他の要因をよりよく理解することができます。この機器はまた、複数のプログラミング言語を統合するために簡単に構成できる診断とテスト方法の包括的なライブラリを提供しています。全体として、ELECTROGLAS 2001は、幅広い試験、診断、分析機能を備えた先進的な半導体プローバです。それは電子部品のテストのための大きい用具で、部品が正しく機能していることを保障するのを助けることができます。