中古 DVT SOLUTION Gigaprobe DVT30-1MM #102353 を販売中
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ID: 102353
Hand held probe for TEKTRONIX TDR oscilloscopes
30GHz, Differential & Single-end, 0.25~2mm pitch adjustable
Used for: TDR/TDT, S-parameter
Features:
30 GHz Bandwidth
True Odd Mode 100 ohm Differential Input Impedance
Probe can be converted to 50 ohm input impedance
TDR Launch Discontinuity <20 mv
Fall Time 20 ps or <5 ps Fall Time Degradation
Fully Balanced Differential Signals without Ground Contact
Adjustable Probe Pitch from 0.25 mm to 2.0 mm
Probe Tip diameter 0.254 mm
Gold Plated Conductive Diamond non oxidizing probe tips for
repeatable TDR measurements
Low probing force <10 grams
Four probes in one: Use as a 100 ohm, 50 ohm, as a Hand Probe or
Mount in a probe articulating arm for hands free probing
Full Set of Probe Pitch Calibration Accessories Included
Characteristics:
Attenuation: 1X
Probe Only Bandwidth: 30 GHz
TDR Degradation: <5 ps
Probe Pitch: 0.25 mm to 2.0 mm (signal tip to signal tip)
Connector Type: SMA
Measured Reflected TDR Fall Time: 20 ps
Impedance: 100 differential, 50 common mode,
Max Voltage In: 5.0 V
(Note: numeric values shown are typical)
Applications:
Create - Single Ended, Differential Insertion, Return Loss Sparameters
from TDR/ TDT Measurements for determining interconnect
bandwidth performance using Tektronix DSA8200 TDR and IConnect®
Impedance Testing - Use IConnect for precision impedance analysis
of IC Packages, Cables, PCB’s and Backplane Testing
Failure Analysis of Device Packages - Locate failure modes.
DVT SOLUTION Gigaprobe DVT30-1MMは、半導体材料の性能を試験および測定する際に、業界をリードする精度と速度を提供するように設計された先進的な半導体プロービングデバイスです。このユニットは、超低ノイズ設計を特徴とする高精度プローブを配列しており、最小回路からの電気信号を正確に測定することができます。このデバイスは、効率的なテストのための長く安定したプラットフォームを備えたコンパクトで人間工学に基づいた設計を特徴としています。調節可能なスピンドルマウントにより、簡単な位置決めが可能で、テスト部品にすばやく正確にアクセスでき、プロービングが速く、パフォーマンスが向上します。プラットフォームはまた、迅速なアライメントとユニットへのアクセスの前面を可能にし、外部の汚染物質からの汚染を低減するのに役立ちます。プローブヘッドは、強力で静かな動作を提供するように設計されており、データ取得時の熱とノイズを最小限に抑えます。このプローブは、シールドシグナルプロービングを簡略化するための独立したグランドリターンと、正確な測定値との高い一貫性を確保する内部加熱機能を備えています。取り外し可能なサンプルハンドリングアームは、迅速なサンプルローディングとアンロードを提供し、効率的なテストソリューションを提供します。Gigaprobe DVT30-1MMはまた、4つのユーザー選択可能な接触力レベルと動的な自動参照チェックを備えた自動接触認識を提供し、各接点が適切にテストされるようにします。さらに、フィードバックベースの電圧制限設定とマルチボルテージプローブによる自動非接触試験により、測定サイクル時間を最大化できます。全体として、DVT SOLUTION Gigaprobe DVT30-1MMは、最も過酷な半導体テストのニーズに取り組むために設計された革新的で効率的で強力なプローバです。その高度な機能、信頼性の高いパフォーマンス、高速データ取得により、信頼性の高い正確なプロービングソリューションを探しているラボや半導体試験の専門家に最適です。
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