中古 Custom Probe Station #9004454 を販売中

製造業者
Custom
モデル
Probe Station
ID: 9004454
Probe Station Steel base plate 20" x 20" x 1/2" Brinkmann stages used in probe position settings (3) Probe supports with micrometer adjustment for the X and Y axis Z axis has course and fine adjustment knobs for height adjustment (3) Probes with a fine angled tip for electrical contact probing has a shielded coaxial cable connected Centrally located sample support stage, 4-3/4" x 4-3/4" under a Bausch & Lomb zoom microscope This stage has a micrometer for the X and Y position adjustment and the ability to be rotated about 45 degrees to the right and left Bausch & Lomb Stereo Zoom 5: Zoom range: 0.8x to 4.0x (2) 20x WF eye pieces Vacuum test plate, no vacuum pump comes with the unit Plastic vacuum line and a switch for connecting or removing the vaccum is mounted on the base plate Light source iincluded (no mounting rods).
Proberは、カスタムプローブステーションとしても知られ、電子部品の電気特性の試験および測定に使用される高度な技術です。プローブステーションは通常、複数のプローブを備えた真空密閉チャンバーで構成されており、それぞれがテスト対象のデバイスの特定の領域(DUT)を個別にターゲットにすることができます。また、通常、デバイスのサイズ、形状、および電気特性に対応するように調整できるプラットフォームが含まれています。カスタムプローブステーションの主な目的は、DUTの電気特性を測定および分析することです。これには、回路の電流、電圧、および抵抗の測定、およびデバイスの温度および熱特性の測定が含まれます。一般に精密機器であるプローブは、信号対ノイズ比、電圧ノイズ、試験速度、消費電力、漏れ電流、安定性など、他のパラメータを測定するためにも使用できます。Proberによるプロービングは、半導体プローバーを使用して行われます。このマシンは、デバイス全体のさまざまな領域をプローブするようにプログラムすることができ、デバイスのパフォーマンスに関する貴重な洞察を提供します。たとえば、プロービングを使用して、スイッチの閉鎖または開閉時間、デバイスのインピーダンス、および電力損失と消費量を調査できます。プロービング後、視覚分析のためにDUTの画像を作成することができます。プロービングだけでなく、人工老化試験、ESD試験、オシロスコープ試験、電圧低下試験、電圧関係試験、熱検査、光学顕微鏡などの試験にも使用できます。また、デバイスの操作を比較するのに役立つグラフを作成するために使用することもできます。さらに、将来の分析のために、テスト結果を保存してデータベースにアップロードすることもできます。カスタムプローブステーションはまた、顧客に信頼性の高いスクリーニングと高度なテスト手順を提供します。たとえば、デバイス全体で短絡などの異常を検出するようにテストをプログラムできます。故障部品が検出された場合、故障を特定して認定するためにカスタムテストプロシージャを設計することができ、コンポーネントを交換することができます。全体として、カスタムプローブステーションは、さまざまなアプリケーションで電子部品の電気特性をテストおよび分析するための非常に有用なツールです。これらは信頼性が高く、正確でカスタマイズ可能であり、デバイスの性能に関する貴重な洞察を提供することができます。
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