中古 CASCADE MICROTECH / ALESSI Summit 11000 #9255340 を販売中

ID: 9255340
Manual wafer prober With RF microwave wafer chuck, 6" Wafer chuck travel: X-Y Travel: 203 mm x 203 mm with 0.1 um resolution Z Travel: 5 mm with 1 um resolution Large area bridge mount: X Axis travel, 6" (±3" from center of travel) Y Axis travel, 8" (±4" from center of travel) Linear manual Z-lift, 3" Microscope: (2) A-Zoom microscopes Bright field illumination Eyepiece viewing with MITUTOYO WF 10X/24 eyepiece lenses Single objective slider with MITUTOYO MPLAN APO 10x objective lens Internal CCD camera Includes: Vibration isolation workstations Probe positioners (RF and DC) Triax / BNC connector panels Vacuum connector panels Coaxial and tri-axial cables Microscope optics Thermal fluid Probe card holder insert assembly.
CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 11000 Proberは、半導体デバイスを精度と速度で分析するために使用されるラインICテストおよび特性評価プラットフォームのトップです。このユニットは、業界をリードする2社のALESSIとCASCADE MICROTECHによって製造されており、優れた性能、使いやすさ、完全な機能セットにより、市場で最も人気のあるテストおよび特性評価システムの1つとなっています。ALESSI Summit 11000は、高度に設定可能で、ユーザーがデバイスを迅速かつ正確にテストできるプログラマブルプラットフォームを備えています。そのプログラム可能なプラットフォームは、さまざまなデバイスの種類やサイズに対応するために調整することができ、複数の操作パラメータを備えています。さらに、CASCADE MICROTECH Summit 11000は、幅広いデータ収集、信号コンディショニング、分析、デバイス品質管理機能をサポートしています。サミット11000の中心には、10µm解像度、50GHz周波数プローバーがあります。プローバは、オンウェーハインピーダンス、静電容量、スモールシグナル応答時間などのデバイス特性を高精度に測定できます。また、DC、 AC、ダイナミック、衝撃試験などのデバイス特性評価にも幅広く対応しています。また、データの操作や解析が容易な幅広いソフトウェアを搭載しています。ソフトウェアに含まれる機能の多くはカスタマイズ可能で、ユーザーは詳細なデバイス分析レポートを迅速かつ正確に作成できます。CASCADE MICROTECH/ALESSIおよびALESSIはまた、システムがユーザーのすべてのニーズを満たすために簡単に更新およびカスタマイズできるようにモジュラー方式でシステムを設計しました。全体として、CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 11000 Proberは、高精度、信頼性、使いやすいテストおよび特性評価ツールをお探しのお客様に理想的なソリューションです。その幅広い機能と最先端のデジタル技術は、あらゆる本格的なIC試験および特性評価施設に欠かせません。ALESSI Summit 11000は、市場で最も優れた製品の1つであり、半導体デバイスの品質と信頼性を保証するための貴重なツールです。
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