中古 CASCADE MICROTECH / ALESSI S200 #9270796 を販売中

CASCADE MICROTECH/ALESSI S200は、半導体デバイスの高精度、高精度な特性評価に使用するために設計されたプローバです。これは、テスト中のデバイスのパラメトリックおよび機能特性の評価を可能にする、高度な機能の多数を備えています。これには、高周波広帯域デバイスのオンウェーハプロービングと高度なキャリブレーションシステムが含まれ、ナノ秒での包括的なデバイス測定が可能です。このプローバは、測定に高精度と精度を必要とするエンジニアにとって理想的なパッケージです。ALESSI S200には、デバイスを継続的に校正し、手動校正や調整の必要性を排除する統合フィードバックループが装備されています。フィードバックループはデバイスのプローブ間の間隔を測定し、公称接触ギャップを維持するように調整します。これにより、複数のプローブとウェーハに一貫した接触が保証され、オペレータに信頼性と再現性の高い測定を提供します。さらに、CASCADE MICROTECH S200には直感的で包括的なソフトウェアが含まれており、迅速な校正とデータ分析が可能です。S200は、高度なステッピングモーターとファインキネマティクスステージを備えており、デバイス接触用のプローブを高精度に配置できます。これらの機能は、サブナノメートルレベルの精度を提供し、高周波ワイドバンド化デバイスの特性の不正確さを防止します。さらに、CASCADE MICROTECH/ALESSI S200には高度な温度制御が含まれており、最大4ゾーンのウェーハ温度を3°C/秒の最大加熱/冷却速度で制御できます。ALESSI S200には、機器の安全な動作を確保するための業界グレードの保護システムも付属しています。CASCADE MICROTECH S200の設計には過熱保護が含まれています。プロービングプロセス中の過剰な熱を防ぐために、最大の加熱/冷却速度を維持し、自動接触破壊機構を使用して、温度が設定された閾値レベルを超えた場合にプローブとウェーハの接触を停止することができます。要するに、S200は広範囲の電子機器および半導体デバイスのための統合されたデバイス特性評価のために設計された非常に汎用性の高いプローバです。フィードバックループやファインキネマティクスステージなど、高度なハードウェアとソフトウェア機能を備えており、プロービングプロセスの高精度と精度を保証します。さらに、CASCADE MICROTECH/ALESSI S200には、安全な動作を確保するための自動接触破壊機構と温度制御が含まれています。