中古 CASCADE MICROTECH / ALESSI REL 4500 #77977 を販売中
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ID: 77977
ウェーハサイズ: 6"
Analytical wafer prober, 6"
Gold plated wafer vacuum chuck diameter, 6"
ECC-1 Controller
ECC01 Controller with 4K memory expansion module
MITUTOYO Optics
XY Movement: 6" x 6"
With manual control
X-Y Stage travel, 6"
Magnetic platen
With micropositioner vacuum
Signal ports
(3) MICROPANIPULATOR Micropositioners
MICROMANIPULATOR 6200 Microscope head
BAUSCH & LOMB MicroZoom Microscope
BAUSCH & LOMB 10X Wide field eyepieces
BAUSCH & LOMB Industrial objective lenses:
2.25x 0.04 N.A.
8x 0.15 N.A.
25x 0.31 N.A.
BAUSCH & LOMB 20W Optics lamp housing
Dual inkers and dual edge sensor
Trinocular viewing head
With camera port
Eyepieces: 10x
Halogen lamp vertical illuminator: 6 V, 20 W.
CASCADE MICROTECH/ALESSI REL 4500ウェーハプローバは、さまざまなプロービング技術とアプリケーションを備えた半導体デバイスの自動テストとプロービングのための堅牢で信頼性の高いプラットフォームを提供します。ALESSI REL 4500 Proberは、小型デバイスからフルウェーハスケールデバイスまで、さまざまなデバイスの効率的で正確なテストとプロービングを可能にする幅広い機能と機能を提供します。プローバーは、ウェーハを最大18インチまで処理する機能を備えており、標準のインラインプローバーステージに加えて、さまざまなプローバーステージを提供します。プローバーは、高速電気インターフェースと内蔵真空システムを備えたソリッドステート、非接触型、非侵入型設計を備えています。CASCADE MICROTECH REL 4500 Proberは、試験システムに安定した環境を提供するように設計されたさまざまな実装および真空システムも備えています。コンタクトプローブモジュール、イメージモジュール、温度補償モジュールが含まれています。コンタクトプローブモジュールは、調整可能なチップ高さ、高速アクチュエーション応答、セキュアプローブ接続、および低接触力測定を利用します。イメージモジュールは、写真の撮影、寸法測定、異なるデバイス間のパフォーマンスの比較など、幅広いイメージングソリューションを提供します。温度補償モジュールは、サーマルドリフトの低減に役立ち、正確な結果を得るための一貫した温度環境を提供します。Proberはまた、複数のモーションシステムをサポートしており、より迅速で正確なテストを行うことができます。モーションシステムには、オートセンタリングアクチュエータ、自動登録機能、ロータリードライバが含まれます。Proberはユーザーフレンドリーなコントロールインターフェイスを備えており、簡単なセットアップと操作が可能です。システムにはさまざまなソフトウェアツールが用意されており、自動テスト、データ収集、分析が可能です。このソフトウェアは、マルチポイントデータ収集、自動プロットアノテーション、高度なデータ分析などのさまざまな機能を提供します。CASCADE MICROTECH/ALESSI REL 4500 Proberは、多くのタイプの半導体デバイスの自動テスト、プロービング、分析に信頼性が高く、堅牢で高性能なプラットフォームを提供するように設計されています。その機能と機能は、多くの生産、エンジニアリング、科学、研究アプリケーションで効率的かつ正確なテストに最適です。
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