中古 CASCADE MICROTECH / ALESSI REL 3200 #162336 を販売中
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ID: 162336
ウェーハサイズ: 6"
ヴィンテージ: 1998
Wafer prober, 6"
Specifications
X-Y stage
Size: 6" x 6"
Type: ball bearings, V-Ways
Accuracy: 2.5 μm (0.1 mil)
Drives: Precision barrel-driven
lead screw
Resolution: 1 μm (0.04 mils)
Standard Pitch: 8 threads per
25.4mm (1 in)
Fine Pitch: 16 threads per 25.4mm (1 in)
Platen Lift
Lift mechanism: lever-actuated
linear motion
Lift distance (3200 only): 0 to 5.08mm (0 to 0.2 in) user-adjustable
Lift distance (4100 only): 25.4mm (1 in.) total. First 5.1mm (0.2 in) independent of optics
Repeatability: 1 μm
Capacity: 10 positioners mounted either magnetically or by vacuum
Wafer Chuck
Sizes: 152.4mm (6 in)
Material: stainless steel top plate
Planarization: ±10 μm (0.4 mil) over entire surface
Theta motion: 90° with lock
Z motion: Precision 25.4mm (1 in) linear; independent of other
stage motions
1998 vintage.
CASCADE MICROTECH/ALESSI REL 3200 Proberは、半導体およびその他の電子部品の電気試験用の高度で高性能なプロービング装置です。コンパクトで自動化されたプラットフォームで高速測定、高解像度、および優れた計測精度を提供します。ALESSI REL 3200 proberは、高いピン数、複雑な形状、高いI/O速度、またはこれらの特性の組み合わせを備えた高度な半導体デバイスを確実にテストするために特別に設計されています。これは、0。508mmから2。162mmまでのサイズのピンサイトを備えた合計3000ピンを提供し、今日の市場でほとんどのデバイスをテストするのに理想的です。プローバーはまた、柔軟性を高めるために25mmの最大プローブカードサイズを備えています。CASCADE MICROTECH REL 3200 Proberは、正確で正確な電気試験のための特許取得済みのナノスケール、クローズドループ計測システムを備えています。デュアル、独立、トリプル軸モーターを備えており、迅速かつ正確なダイ・アライメントを実現し、テスト走行の時間を節約できます。また、静電気放電(ESD)による損傷を防ぐアクティブライトニング放電(ALD)技術も備えています。REL 3200 proberはまた、長期間ユニットを使用する人々のための優れた人間工学を持っています。それに調節可能な卓上、またユーザーの好みに従って置くことができる調節可能な手作業の調査の腕があります。さらに、CASCADE MICROTECH/ALESSI REL 3200 Proberは、高度な自動化機能を提供します。これは、Webベースのタッチスクリーン、および自動ハンドラを介して操作することができます。また、データ処理、分析、レポートなどの高度なソフトウェア機能も提供しており、テストプロセス全体のスピードアップに役立ちます。さらに、ソフトウェアは、選択したデバイスで自動的にテストを繰り返すようにプログラムすることができます。全体として、ALESSI REL 3200 proberは、あらゆる半導体デバイス向けの高度で高性能な試験機です。その高いピン数と精度測定ツールは、今日の市場でほとんどのデバイスをテストするのに理想的ですが、洗練された自動化機能により、テストプロセスを合理化してより迅速かつ効率的な結果を得ることができます。
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