中古 ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9123181 を販売中
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ID: 9123181
ヴィンテージ: 2007
Probers
Loader unit: Left side
Barcode read: Yes
USB: Yes
Loader specification: 12" FOUP, 12" open, 8" open
OCR: Auto wafer ID read
Prober cleaning:
Touch sensor
Clean pad vacuum system
Card change: Auto card change
Chiller type: SCU-500R
Test temp : -40° C ~ 150° C
Chiller: Chiller(-40° C ), cooling chuck
Hinge: MHF4000EXC
Max multisite num: >256 dies
Max cat. num: 9999
Hot / Ambient chuck
2007 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000EXは、マイクロエレクトロニクスデバイスの性能をテストおよび分析するために設計された高度な精密プローバです。最大3つの個別ダイを一度にテストすることができ、マイクロエレクトロニクス機器のより迅速で費用対効果の高い量産が可能です。この装置は、高精度のプロービング装置と完全に自動化されたハンドリングおよびデータ分析ソフトウェアを組み合わせています。TSK UF3000EXのプローブヘッドには、垂直移動の300µmとASIC固有の確率能力が装備されています。これにより、テスト中のデバイスとの接触を厳密にし、デバイスのダイに対するプローブの非常に正確な位置決めを可能にします。ACCRETECH UF 3000 EXには、電気接触を最適化し、汚染の可能性を最小限に抑えるために、各ダイに特化して幾何学的に生成されるセラミックベースアセンブリも含まれています。Proberのデータ収集システムは、高精度のアナログ部品とデジタル部品を組み合わせています。これにより、負荷容量、利得、ノイズ、直線性など、デバイスのパラメータを詳細に分析できます。さらに、グラフィカルユーザーインターフェイスは、プローバを簡単かつ直感的に制御し、パラメーターの選択とデータレビューを簡単に行うことができます。ACCRETECH UF3000EXは、オペレータの関与を最小限に抑え、再現性と信頼性の高いパフォーマンスを可能にする自動運転ユニットを備えています。このマシンは、プローブをデバイスに合わせたり、プローブを接続したり、デバイスのパラメータを測定したり、データを記録したり、特定の要件が満たされたら自動的にプロセスを停止するなど、プロービングプロセスの各ステップを自動的に制御することによってこれを達成します。最後に、ACCRETECH/TSK UF 3000 EXは、メモリカードのテストに関して優れた性能を提供することもできます。セルフテストおよびテストログ機能を内蔵しており、テスト結果の自動記録とパフォーマンステストレポートの自動生成を可能にします。全体として、UF 3000 EXは、優れた性能と信頼性を提供する高度で精密なテストおよび分析プラットフォームです。洗練されたプロービング装置、自動化されたハンドリングおよびデータ分析ソフトウェアの組合せによって、UF3000EXは良質のマイクロエレクトロニクス装置の生産のための理想的な選択です。
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