中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9408930 を販売中

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製造業者
ACCRETECH / TSK
モデル
UF 3000
ID: 9408930
ウェーハサイズ: 12"
Prober, 12" Chuck material: NICKEL Hard Disk Drive (HDD) Floppy Disk Drive (FDD), 3.5" Magneto optical drive Head stage Loader Type: FOUP and open cassette Dual robotic wafer transport arms Pre-alignment stage unit Auto needle alignment Camera X, Y Dual heidenhain scales Color LCD Control panel with touch panel switches Alarm lamp pole Options: Hot chuck: 30°C - 150°C Wafer ID Recognition Needle cleaning option: Wafer type and polish plate Multi site parallel probing Fail mark inspection system Probe mark inspection system GPIB Interface Ethernet interface Automatic probe card changer Image processing board Bump height setting Group index Multi pass probing Printer Network: Veganet Tester and manipulator: ST MT72.
ACCRETECH/TSK UF 3000は、半導体業界の自動試験用に設計されたプローバです。これは、高精度で非接触の高精度なプローバーで、さまざまな光学サブシステムと機械サブシステムを使用して、正確で再現性のある測定を提供します。TSK UF 3000のコンパクトな設計とタッチフリー試験機能により、半導体製造事業のスループットを高め、歩留まりを向上させる貴重なツールとなります。1台のダイで最大24の異なるポイントを同時にテストできるため、大規模な生産に最適です。ACCRETECH UF3000は、テストダイを保持、移動、方向付けするために使用されるx-yステージを備えています。ダイが位置にあると、レーザーの列がそれをスキャンしてテストポイントを測定します。パワフルで統合されたVision Algorithmは、欠陥ダイを自動的に検出し、正確で信頼性の高い結果を保証します。この視覚ベースのシステムは、10ミクロンの欠陥を検出するのに十分な強力です。ACCRETECH UF 3000には、ユーザーフレンドリーなインターフェイス、直感的な診断、包括的なデータ出力オプションなど、使いやすい機能も多数あります。このインターフェースにより、サンプルサイズ、テスト周波数、公差などの重要なパラメータを調整でき、特定の要件に合わせてシステムを簡単にカスタマイズできます。内蔵のDiagnosticsは、リアルタイムのエラーメッセージとステータス情報を提供し、ダウンタイムを最小限に抑え、品質管理を確実にします。出力オプションを使用すると、さまざまなデバイスにデータを送信できるため、結果の確認と分析が容易になります。全体として、UF3000は汎用性が高く、強力で高精度なプローバであり、半導体試験操作に最適です。その高度な機能により、精密試験と歩留まり向上のための優れたオプションとなります。
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