中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9408930 を販売中
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タップしてズーム
販売された
ID: 9408930
ウェーハサイズ: 12"
Prober, 12"
Chuck material: NICKEL
Hard Disk Drive (HDD)
Floppy Disk Drive (FDD), 3.5"
Magneto optical drive
Head stage
Loader
Type: FOUP and open cassette
Dual robotic wafer transport arms
Pre-alignment stage unit
Auto needle alignment
Camera
X, Y Dual heidenhain scales
Color LCD Control panel with touch panel switches
Alarm lamp pole
Options:
Hot chuck: 30°C - 150°C
Wafer ID Recognition
Needle cleaning option: Wafer type and polish plate
Multi site parallel probing
Fail mark inspection system
Probe mark inspection system
GPIB Interface
Ethernet interface
Automatic probe card changer
Image processing board
Bump height setting
Group index
Multi pass probing
Printer
Network: Veganet
Tester and manipulator: ST MT72.
ACCRETECH/TSK UF 3000は、半導体業界の自動試験用に設計されたプローバです。これは、高精度で非接触の高精度なプローバーで、さまざまな光学サブシステムと機械サブシステムを使用して、正確で再現性のある測定を提供します。TSK UF 3000のコンパクトな設計とタッチフリー試験機能により、半導体製造事業のスループットを高め、歩留まりを向上させる貴重なツールとなります。1台のダイで最大24の異なるポイントを同時にテストできるため、大規模な生産に最適です。ACCRETECH UF3000は、テストダイを保持、移動、方向付けするために使用されるx-yステージを備えています。ダイが位置にあると、レーザーの列がそれをスキャンしてテストポイントを測定します。パワフルで統合されたVision Algorithmは、欠陥ダイを自動的に検出し、正確で信頼性の高い結果を保証します。この視覚ベースのシステムは、10ミクロンの欠陥を検出するのに十分な強力です。ACCRETECH UF 3000には、ユーザーフレンドリーなインターフェイス、直感的な診断、包括的なデータ出力オプションなど、使いやすい機能も多数あります。このインターフェースにより、サンプルサイズ、テスト周波数、公差などの重要なパラメータを調整でき、特定の要件に合わせてシステムを簡単にカスタマイズできます。内蔵のDiagnosticsは、リアルタイムのエラーメッセージとステータス情報を提供し、ダウンタイムを最小限に抑え、品質管理を確実にします。出力オプションを使用すると、さまざまなデバイスにデータを送信できるため、結果の確認と分析が容易になります。全体として、UF3000は汎用性が高く、強力で高精度なプローバであり、半導体試験操作に最適です。その高度な機能により、精密試験と歩留まり向上のための優れたオプションとなります。
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