中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9375638 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 3000は、最新の半導体デバイスにおける高度な故障解析用に設計されたプローバです。Proberを使用すると、潜在的な欠陥または発生する問題を迅速かつ簡単に特定して特定し、高度な故障解析を迅速かつ効率的に行うことができます。TSK UF 3000 proberは、8インチウェーハの大容量を備えています。プローブサイトの詳細な画像を得るための調整可能な高解像度ビデオカメラを備えており、さまざまなインピーダンスおよびパワーテストを行うこともできます。プローバーは高精度に最適化され、0。1マイクロメートル以内に正確です。プローブチップには、精密なモーションコントロール用の3軸デジタルサーボコントローラが装備されています。プローバには、リアルタイムの性能測定とプローブ結果の自動ロギングを提供する測定システムが内蔵されています。電圧、電流、温度など、さまざまな試験条件や測定パラメータに対応できます。プローバは完全にプログラム可能で、ウェハテストや評価から欠陥識別まで、幅広いアプリケーションで使用できます。ACCRETECH UF3000 proberは、幅広いパラメトリック情報を監視することもできます。高周波応答、周波数応答、および差動容量を測定する機能を備えています。プローバは、パワーレール電圧降下やパワーオン/パワーオフ安定性などの電力測定も可能です。また、sパラメータとパルス誘発シフトレート（PISR）をキャプチャすることにより、低レベルのノイズ性能を測定することができます。プローバーには、0。4ミクロンという小さな欠陥を検出できる高密度イメージングが組み込まれています。3Dダイスタッキングや組込み薄膜構造や離散薄膜構造の使用など、さまざまな集積回路特性で使用できます。さらに、プローバはエッチング後の検査に使用でき、既存の測定制御システムと完全に互換性があるように設計されています。UF 3000 proberは、高度な故障解析を迅速かつ効率的に行うように設計された精度、速度、および電力の素晴らしい組み合わせを提供します。ユーザーフレンドリーに設計されており、直感的なインターフェイスを備えているため、ユーザーはすぐに立ち上がって実行することができます。さまざまな最新の半導体デバイスのプロービングとテストに対応する包括的な機能と性能を提供します。