中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9361998 を販売中
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ID: 9361998
ヴィンテージ: 2006
Prober
Cold option
Docking plate for ADVANTEST T 5377S
Nickel plate, 12"
Cold chuck temperature: -55°C to 150°C
Auto PAD alignment unit
Auto probe card change
Auto reading wafer ID (Type 6 OCR)
Clean pad: 155 x 280 mm
Ethernet function
Touch sensor
GPIB I/F
SCU 600E Chiller
MHF 6000 Hinge
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 Proberは、半導体装置の効率的で正確な電気試験を容易にするように設計された高性能プローブ装置です。直径200mmまでのウェーハのプロービングと再検査の両方を行うことができる完全自動化されたシステムです。プローバーには、高精度のデュアルアームXY/Rzマニピュレータと、高精度で再現性の高いカスタム設計のチャックおよびブレードアセンブリが装備されています。これは、30nmテクノロジーノードまでのすべての方法で、高精度で片面および両面プロービングをサポートすることができます。また、上下の試験にも対応可能で、幅広い機能を備えた汎用性の高いプローバーとなっています。TSK UF 3000 Proberには、正確なアライメントと接触の視覚的表示のためのビジョンユニットが装備されています。また、マイクロパッドパターンを検出することで部品を見つけることができるカスタムデザインのアライメントマシンを備えています。ACCRETECH UF3000は、2ミクロンの浅い片面試験構造でプローブすることができ、非常に小さな形状のデバイスをプローブすることができます。このツールは高速ウェーハ処理機能を備えており、所定の試験領域のサイズを縮小し、試験時間を短縮します。さらに、プローバーには、テストプロセス全体を自動化するインテリジェントなプロービングシーケンスが装備されており、手動による介入を排除し、一貫性のある正確なテストを保証します。TSK UF3000には、資産パフォーマンスを監視およびレポートするための包括的な診断ツールも含まれています。これには、温度監視、過熱保護、電源監視、電圧状態監視、および光アライメント性能が含まれます。これらの診断ツールは、プローバが適切かつ一貫して機能していることを保証し、修理やメンテナンスに必要な時間を短縮するのに役立ちます。ACCRETECH/TSK UF3000 Proberは、業界最高のパフォーマンス要件を満たすことができ、高い歩留まりとスループットを必要とする生産環境に適しています。これにより、高度な電子部品の生産と開発に最適です。
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