中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9354727 を販売中
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ID: 9354727
ヴィンテージ: 2005
Prober
Hot chuck nickel
40-Figures internal printer
COGNEX OCR Reader and T7 reader (Front / Back reading)
Multi function cleaning (Maximum 3 area)
Touch sensor
Tag reader for FOUP cassette
Remote terminal kit
Dew point meter
Chuck blow
Base unit with stretched loader
Hot chuck nickel (Ambient to 150°C)
Single FOUP loader, 12"
Loader cover to protect open cassette, 8"
Image data processing system
Automatic PTPA / Needle height alignment
Veganet SECS / GEM
Ethernet I/F
GPIB I/F With cable
Probe Mark Inspection (PMI)
Real time wafer map display
Multi die test up to 256
Signal tower
Bump height setting
Group index
Prober monitoring SBL, BM, YPS, RC
Multi pass probing
Soak time
APC 440
Automatic probe card charger
Combo head plate
Insert ring for tester
Service manipulator
Pre-hinge
CE Marked
2005 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000は、幅広い半導体製造および研究用途向けに設計されたプローバ装置です。新しい材料やデバイスを評価するための強力なツールであり、コンポーネントの迅速なテストとそれらの本格的な生産を提供します。TSK UF 3000のユニークな機能は、その広範なキャリブレーション機能、迅速なテスト機能、データ収集用のソフトウェアベースのインターフェースなど、他の本番ユニットとは一線を画しています。ACC RETECHACCRETECH UF3000のキャリブレーション機能により、抵抗、容量、電圧、電流、温度など、さまざまなパラメータを正確に測定できます。このプローバーシステムは、これらのパラメータを高精度で高速なターンアラウンドタイムで測定することができ、生産および研究アプリケーションに最適です。ACCRETECH/TSK UF3000はまた、迅速なテスト機能を提供します。コンポーネントを迅速かつ正確に測定および検証し、パラメータを確立することができます。これにより、生産開始前にコンポーネントが正常かどうかを迅速に判断できます。さらに、TSK UF3000は、データ収集と診断のためのソフトウェアベースのインターフェイスと統合されています。これにより、プローブのパフォーマンスを簡単に監視し、データをより効率的に分析することができます。GUIにより、ユーザーはユニットとすばやく通信し、リアルタイムのフィードバックを確実にすることができます。最後に、ACCRETECH UF 3000には、追加の精度とカスタマイズ可能な設定のためのx5倍率顕微鏡が内蔵されています。これにより、ユーザーは精度と品質を確保するために、コンポーネントを複数の詳細レベルで表示することができます。UF3000はあらゆるタイプの生産、研究、および診断の適用のための強力なprober機械です。その広範な校正機能、迅速なテスト機能、データ収集用のソフトウェアインターフェイス、および組み込み顕微鏡は、ユーザーに品質、精度、信頼性を提供します。
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