中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9350284 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 3000は、プロセス分析および製品開発用に設計されたプローバ装置です。これは、走査型電子顕微鏡（SEM）、エネルギー分散分光法（EDS）、先進光学を組み合わせた高度な計測システムで、高精度かつ高精度な画像とデータを提供します。TSK UF 3000は、複雑な材料の詳細な非破壊解析を提供することができます。ACCRETECH UF3000はモジュラー設計を特徴とし、容易なアクセスおよび取付けを可能にします。自動化された機能により、迅速なプロセス監視とプロセス制御機能を提供します。また、極端な温度、高湿度や真空など、さまざまな条件下での動作を想定して設計されています。このユニットには、分析用のサンプルの画像をキャプチャするための高解像度CCDカメラが含まれています。また、表面の動きを測定し、表面の特徴を調べるためのイメージングマシンも含まれています。UF 3000には、高解像度画像を生成する5つの狭いビーム、およびスペクトル分析機能を含むマルチチャネル4アウトソリューションが装備されています。CVD、 RTPなどのプロセス用に設計された4アウトソリューションには、低エネルギー、中エネルギー、高エネルギー、パルスX線放射分光法のオプションも含まれています。さらに、このツールはサンプルの歪みを最小限に抑えるために、自動的で連続的なドリフト補正を提供します。UF3000の高度なイメージング機能は、プロセス制御および開発にも使用されます。エッジ検出・抽出機能により、特徴やナノ構造の正確な特性評価・測定が可能であり、粒子解析機能により粒子の大きさや存在を解析することができます。また、EDXとEBSDデータを組み合わせた高度な機能イメージングを提供し、品質保証パラメータを提供します。ACCRETECH/TSK UF3000は、プロセス分析用に設計された高度な計測資産です。柔軟な設計とモジュール構造により、迅速で簡単なセットアップとインストールが可能です。マルチプレックスソリューションは、処理と分析のための幅広いデータ複雑さを提供します。材料の正確で非破壊的な非接触測定を提供するように設計されています。高度なイメージングおよびスペクトル解析機能により、詳細な特性評価とプロセス制御が可能です。