中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9268173 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 3000 Proberは、6インチまでの半導体コンポーネントをテストするために設計されたスタンドアロンのハイブリッドウェーハProberです。内蔵の測定装置と3軸の高解像度ステージを備え、調整可能な位置決め解像度は0。5 µmです。このプローバは、さまざまな環境での電子部品の高速試験、および再現性と精度を実現します。また、自動校正、自動アライメント、および自動測定機能を備えており、試験パラメータの正確な再現性を提供します。TSK UF 3000 Proberは、モータ駆動の3軸ステージモーションを内蔵した堅牢で統合されたデジタルコントロールシステムを中核としています。また、手動またはリモートPCから制御する柔軟性があり、あらゆるテストプロセスで使いやすいインターフェイスを提供します。Proberは、最大4つの測定システムをサポートして複数のタイプのテストをサポートしているため、専用のテストで複数のプローバーを使用する必要がありません。ACCRETECH UF3000 Proberは、最大200mm/sの速度で最大300mmのウェハトラベルを提供し、高速試験性能と正確な精度の両方を提供します。ウェーハはプローバーの真空ユニットにスレッドすることができ、密閉試験と正確なウェーハアライメントを可能にし、潜在的なガス漏れや汚染を排除します。また、UF 3000 Prober独自のサーボコントロールマシンにより、ウェーハを測定アクティブ領域内に正確に配置し、最も正確な結果を得ることができます。UF3000 Proberには、ウェーハ表面の欠陥や欠陥を特定するための高度で統合された高解像度イメージングツールもあります。さまざまなタイプの試験用に幅広いプローブや治具に対応可能で、統合されたAuto Alignment Assetと組み合わせて使用できます。これにより、TSK UF3000 Proberは、サブミクロンウェーハプロービング、LEDダイプロービング、さまざまな電気試験、ナノファブリケーション、原子化など、さまざまな試験アプリケーションに使用できます。ACCRETECH/TSK UF3000 Proberは、多種多様な半導体製造環境および試験環境向けの貴重なツールです。その堅牢な設計とモーター駆動の3軸ステージモーションとの統合は、正確で反復可能なテストのための信頼性の高いソリューションを提供します。独自の統合イメージングモデルにより、欠陥の識別と検証のためのユーザビリティがさらに向上します。ACCRETECH UF 3000 Proberは、かなりの精度と再現性を備えており、実験室や生産現場で正確で最適化された測定を提供できます。