中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9196328 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 3000は、TSK/TOKが開発したウェーハやデバイスの試験に対応できるプローバです。高速プロービング装置と高解像度光学技術を組み合わせ、精密測定を行います。TSK UF 3000はまた、さまざまなテスト要件をサポートするために、さまざまなツールチップを使用しています。このシステムは、高い精度を維持しながら、高スループットで高速自動プロービングを可能にするように設計されています。ACCRETECH UF3000 proberの特徴は、200kzサンプリングレートの高速プローブカード、高精度XY測位機能、0。5 μ mの画像解像度を提供する高解像度光学顕微鏡などです。Proberには、3Dデバイスのテスト用にディーププロービングを可能にするように設定できるさまざまなプローブカードも含まれています。さらに、このユニットには、温度および湿度制御機能を可能にする環境制御ユニットが装備されています。これにより、継続的なテストの精度と再現性が保証されます。ACCRETECH UF 3000 Proberは、半導体デバイスの高速かつ効率的な特性評価を可能にする強力な分析ツールを提供します。これらのツールには、IV、 C-V、 ESD保護、タイミング測定などのデバイス特性を分析するための統合環境を提供するソフトウェアのAnalysis Centerスイートが含まれます。Analysis Centerは、データを迅速に評価し、問題を特定する「find-and-fix」機能を備えています。さらに、Proberには直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスが付属しており、ユーザーはすべてのデータにすぐにアクセスでき、すばやく操作できます。また、UF3000 proberは、ジッタ、クロストーク、および信号性能の他の側面などの信号整合性を効率的に測定できるスペクトル解析機能も提供します。このマシンは、データの完全性を保護し、テスト結果を安全に保持するために、多層保護マシンを使用しています。全体として、UF 3000 proberは、自動化されたテストのための高度で効率的なソリューションです。このツールは、半導体デバイスの迅速かつ正確なテストと特性評価のための強力なツールを提供します。この資産は、精度を維持しながら大量の生産要件に対応するように設計されています。その幅広い機能と直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスは、すべてのデータに簡単にアクセスでき、包括的なテストに最適なソリューションです。