中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9195629 を販売中
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タップしてズーム
ID: 9195629
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2007
Prober, 12"
Loader type: TSK
Loader: Single port (Loader is right)
Cassette ID reader: No
Chuck size: 12"
Chuck top material: Nickel coating
Chuck temperature range: 30-150C
High force Z driver
Auto prober to pad alignment
Needle mark inspection
Fail mark inspection
Auto needle height and align
Probe card change: Manual
3-64 Multi-site probing: 1-512
GPIB Interface
ACCRETECH Standard command
Temperature unified chuck option: No
Low noise chuck option: No
External chiller unit: No
Backside wafer ID OCR: No
Wafer ID barcode reader: No
Low temp chuck: No
Options:
Needle cleaning
Soak time
2007 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000は、セラミックス、金属、有機材料を含むさまざまな材料の平面および体積表面のパラメータを測定する表面分析装置の一種であるプロフィロメータです。ステップ、角度、平坦および溝のような表面のプロフィールを測定し、直角、正方形および円形のようなさまざまなプロフィール形の表面の粗さ、波動および偏差を検出し、測定できます。TSK UF 3000は、2つのプローブスタイリ、ダイヤモンドチップ加工された粗さスタイラス、および円形溝スタイラスを使用して、幅広い測定用途に対応しています。ダイヤモンドチップのスタイラスは、小さな部品の高解像度の粗さ測定を提供し、溝のあるスタイラスは溝のある部品のより専門的な測定を可能にします。ACCRETECH UF3000はまた、アクティブなスタイラス振動を使用して、プローブとサーフェス間の正確な接触を確保し、より正確な表面プロファイル測定を行います。プローブの動作範囲は50mm x 50mmです。最大3ミクロンの測定範囲を持ち、垂直分解能で最大0.1µmを測定できます。自動スタイラスチェンジユニットにより、プローブスタイラスを素早く簡単に変更でき、測定の精度と効率が向上します。TSK UF3000は、直線方向の粗さや波長などの表面の凹凸を検出できるリニアサーフェスプロファイル測定や、複雑な3Dサーフェスの形状を単一のムーブメントで測定するのに最適な3Dプロファイル測定など、さまざまな高度な機能を備えています。また、部品プロファイルの自動デジタル化を備えており、ユーザーは感度と精度でデータを分析、追跡、保存することができます。UF3000は頑丈な設計で構築されており、過酷な産業環境での定期的な測定と長期的な使用の両方に適しています。USB、 LAN、 RS-232など、さまざまなインターフェイスを備えており、さまざまな制御システムやネットワークシステムと接続できます。ACCRETECH/TSK UF3000には、超高精度部品の精密測定に最適なオプションの低振動スタンドがあり、測定プロセスに不要な環境影響を排除します。
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