中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9193440 を販売中
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販売された
ID: 9193440
ヴィンテージ: 2003
Probers
High temperature
Nickel plate chuck, 12"
Hot chuck: 30°C ~ 150°C
Auto needle alignment
Auto pad alignment unit
Auto reading wafer ID (OCR Type 6 & ESI)
Ethernet function
GPIB Interface
Multi site probing function
Needle cleaning function stage
STD Spec: 150 x 150 mm
Prober mark inspection (PMI)
Single loader
Cassette / (25) FOUP
Hard disk drive (HDD)
LCD Color
Touch sensor
2003 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000は、自動観測プローブステーションと、集積回路(IC)ダイ、フリップチップ、MEMS、ウェーハおよびパッケージの正確な測定を提供する3D顕微鏡を組み合わせた製品です。TSK UF 3000は、故障解析、品質管理、プロセス最適化など、半導体業界の幅広い用途に最適な設計です。ACCRETECH UF3000は、150mm反転マックストップ顕微鏡を搭載し、3D完璧なアライメント機能を備えており、さまざまなプローブで使用すると安定性と精度を提供します。また、導電性プローブ、熱電対プローブ、パッシブプローブ、Eビームプローブなど、幅広いプローブを提供しています。また、高速スキャン機能を搭載しており、ICダイおよび表面フィーチャーの詳細な解析が可能です。ACCRETECH/TSK UF3000には、世界最速のXYZステージ(200 um/秒)が搭載されており、ICのダイおよび基板特性を迅速かつ正確に測定できます。3µmの非接触深度精度で0。5umの解像度を提供します。さらに、TSK UF3000の完全自動化された機能により、手動操作を必要とせずにスループットを向上させることができます。このシステムはまた、サンプルの温度制御を提供し、抵抗の変動を減らし、より正確な測定を行うのに役立ちます。イーサネット接続により、統合された信号コンディショニングが可能であり、正確なプロービング信号を可能にします。冷却モジュールを備えており、サンプルダイの安定した環境を確保します。UF 3000は、ICダイプロービングおよび解析用の信頼性の高い高性能プローバです。高度な機能と簡単な操作により、さまざまなアプリケーションに最適です。高速なXYZステージ、高解像度、温度制御、イーサネット接続により、ACCRETECH UF 3000は、ダウンタイムを最小限に抑えて正確な測定と分析を提供できます。
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