中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9120847 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 3000 Proberは、ウェーハレベルでデバイスを特徴付けるために使用される最先端のプローバ機器です。このシステムは、高解像度の光学顕微鏡と幅広い分析およびプロービング機能を組み合わせて、標準および高精度のプローブの両方に対応します。これにより、ユニットは、強化された製造プロセスの開発、歩留まりの決定、プロービングおよび生産制御に使用することができます。このマシンは、ウェーハ検査、薄膜測定、ローカライゼーション情報取得、ダイツプロービング、サンプルツーパターン解析、画像比較など、幅広いアプリケーション向けに設計されています。また、標準の200mmおよび300mm円形ウェーハ、長さ700mm、幅200mmまでの大型長方形ウェーハなど、さまざまなウェーハサイズに対応できます。このツールは、0。5から6 mmまでの可変スポットサイズ、10-280 cmからの調整可能な焦点距離、0。6 μ mの横分解能、および0。3 μ mの垂直分解能など、高度な光学性能を備えています。また、反射光、透過光、蛍光、偏光、偏光画像、スキャン顕微鏡など、さまざまな種類の光学プローブにも対応しています。このアセットは、光学性能に加えて、さまざまなプロービング機能を備えています。UFプローブヘッドには、プロービング抵抗、静電容量、電流、および電圧用の4つの交換可能な高精度プローブが備わっています。UF Proberは、専門的な測定のための追加のプローブやトランスデューサにも対応できます。UF Proberには、データ分析を容易にするように設計された多数のソフトウェア機能も含まれています。これらには、自動サンプルマッピング、自動電圧スキャン、ダイツダイ相関、ウェハの向きとスケッチツール、カスタマイズされたレポートなどがあります。このモデルは、英語、スペイン語、簡体字中国語など、さまざまな言語でも操作できます。UF Proberには、他の同様の設計およびテストシステムとは別に、多くの利点があります。高信頼性・高精度で、高度な光学性能と包括的なプロービング能力により、半導体プロセスの開発、生産管理、故障解析に最適です。幅広い機能を備えたUF Proberは、今日の市場で最も先進的なプロバーシステムの1つです。