中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621719 を販売中
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ID: 293621719
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2006
Wafer prober, 12"
Process: V5400 Hot air
Load port
ATT A300T Air cooled chuck
X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C)
X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm
Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm
Z Axis control accuracy: ±2 µm
Stage durability: 200 kgf
Does not include Hard Disk Drive (HDD)
Power supply: 120 AC, Single phase
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000は、半導体デバイスのウェーハ検査および電気特性評価用に設計された自動プローバです。このツールは、高感度であり、高温でも小さな変化を検出することができます。高度なマルチプローブモーションコントロールを利用することで、デバイスのさまざまな領域を可変温度で素早く正確にマッピングできます。TSK UF 3000は最大16個のプローブをサポートし、各プローブが独立したデバイスを同時にテストできます。システム全体がTSK WaferScanソフトウェアとシームレスに統合されているため、ユーザーは収集したデータを迅速に測定および分析できます。ACCRETECH UF3000は、プロセスのスピードアップに役立つさまざまな温度範囲を選択できます。また、さまざまなプローブヘッドが含まれているため、ユーザーはさまざまな角度と位置でデバイスと接触することができます。温度範囲は正確に制御することができ、-50°Cから+400°Cに及ぶ極端な温度に達することができます。このツールはまた、信号エネルギーを注入し、ナノ秒内の回路応答を測定して動的デバイスの特性評価を行うように設計されています。TSK UF3000は、ソフトウェアと高速信号処理をサポートし、これまでにない正確なデータとパフォーマンスを提供します。ノイズ比、リミッター、調整可能なダイナミックレンジへの信号を含むテストプログラムを管理するための広範な管理機能を備えています。また、急速に交換可能なアダプタプレートを備えているため、テスト構成を素早く簡単に変更できます。ACCRETECH UF 3000は、プローブ動作の高精度制御とZ高さ制御を提供し、優れた精度を提供します。このツールは、ウェーハレベルフォーマットとダイレベルアドレッシングの両方のために設計されています。自動データロギングシステムにより、強力な分析と記録機能を提供します。高精度な結果を再現するために、UF3000は理想的なツールです。堅牢な設計と最先端の技術により、動的半導体部品の厳密な検査と電気特性評価に最適なソリューションです。
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