中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621713 を販売中
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ID: 293621713
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2006
Wafer prober, 12"
Process: V5400 Hot air
Load port
ATT A300T Air cooled chuck
X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C)
X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm
Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm
Z Axis control accuracy: ±2 µm
Stage durability: 200 kgf
Does not include Hard Disk Drive (HDD)
Power supply: 120 AC, Single phase
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000は、精密電子部品の電気試験に使用されるプローバです。このデバイスは、品質保証および生産監視プロセスで使用されます。3Dパターン認識装置を搭載しており、微細な電気機械デバイスにおける微小な欠陥、部品の不整合、その他の異常を検出することができます。プローバは高速で動作可能で、スループットは1時間あたり最大600ウェーハです。自動化されたウェーハハンドリングとウェーハローディングシステムを備えており、製品のサイクルタイムとスループットの向上を可能にします。このデバイスは、固定ベースとx/y軸システムで構成されており、幅広い動作を可能にします。Proberは40mmの範囲内の部品を正確に測定でき、測定の範囲そして精密のために調節可能です。さらに、最大14ナノメートル(nm)の分解能を持つ部品の手動または自動検査および測定が可能です。プローバには、マイクロ不足の有無を検出できるAccraGaugeTM光学測定ユニットと、テストの効率と精度を向上させるAccraVisionTMソフトウェアが装備されています。プローバーには、高速カメラ、表面照明、および広範なパラメータ設定を含むビジョンマシンが装備されています。AccraVisionソフトウェアを使用すると、オペレータは特定の機能サイズ、検出位置、公差を指定することができ、デバイスがテスト中のコンポーネントの異常を正確に検出できるようになります。AccraGaugeツールは、3Dベクトルマップを使用してコンポーネント上のフィーチャー間の3D距離を正確に測定し、コンポーネント表面のマップを作成します。プローバは高精度コンポーネント向けに設計されており、1アップのロープロファイル、2アップのミッドハイト、または3アップのハイプロファイルの3つのフォームファクタで提供されます。また、ウェーハリフトプロセスを内蔵しており、オペレータはウェーハのコーナーやウェーハの問題領域にアクセスして、繊細で不明瞭なコンポーネントにアクセスすることができます。このプローバの出力は両方ともリアルタイムオンラインであり、さらなる分析とレビューのためにオフラインでも利用できます。proberは精密電子部品のテストおよび電気的に測定のために設計され、部品およびアセンブリの品質保証そして生産の監視のための理想的な用具です。機能と検出機能に加えて、高いスループットレートと組み込みの自動ウェーハハンドリングとウェーハローディングにより、コンポーネントをテストするための堅牢で信頼性の高いプラットフォームをユーザーに提供します。
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