中古 ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621711 を販売中
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ID: 293621711
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2006
Wafer prober, 12"
Process: V5400 Hot air
Load port
ATT A300T Air cooled chuck
X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C)
X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm
Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm
Z Axis control accuracy: ±2 µm
Stage durability: 200 kgf
Does not include Hard Disk Drive (HDD)
Power supply: 120 AC, Single phase
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000は、プロトタイプデバイスで電気試験を行うために使用される半導体プローブです。これは、中小規模の研究開発ラボで使用されるように設計されています。Proberには、さまざまなタイプのデバイス試験用の交換可能なコンポーネントを備えた柔軟なモジュール設計があります。プローバーは、最大8枚のプローブカードを収容するためのプラットフォームを備えたモジュラーベースユニットで構成されています。ウェーハアライメント、試験片クランプ、冷却用のチャンバーを内蔵しています。広い温度範囲(-20〜200°C)で電気特性を測定できます。プローバには、ICやMEMなどのさまざまなテスト構造に準拠したプローブもあり、カスタマイズ可能なテスト構成が可能です。プローバーはまた、自動レベル制御、プローブ力の自動調整、試験速度の自動ターゲティングなど、さまざまな制御機能を提供します。また、アナログ電圧と電流、デジタル電圧、デジタル信号など、さまざまなデータ収集チャネルを提供しています。さらに、Proberはテスト結果を記録および再生する機能を提供し、ユーザーはテストを微調整することができます。TSK UF 3000はグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)を備えており、デバイスのセットアップが容易です。GUIにより、テストシーケンスのプログラミング、試料パラメータの編集、データの収集/表示が可能です。さらに、ProberはLabVIEWとASCOTをサポートし、プログラミングの柔軟性を高めています。ACCRETECH UF3000のその他の機能には、テストの設定、自動バックグラウンド補正と補正、バルブチェック精度の向上、ダイナミックインピーダンス制御、高度なテストパターン機能などがあります。また、イーサネット接続による遠隔監視と制御、ネットワークデータ管理システムへの自動結果伝送も可能です。全体として、UF 3000は幅広いテスト機能を備えており、ユーザーはデバイスのパフォーマンスデータを効率的かつ正確に取得および分析することができます。モジュール設計とさまざまなタイプのプローブにより、Proberは特定のデバイスのテスト要件を満たすように簡単に構成できます。さらに、高度な機能セットにより、デバイスのパフォーマンスが時間の経過とともに信頼性が維持され、ユーザーは自信を持ってテストを行うことができます。
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