中古 ACCRETECH / TSK UF 3000+MHF4000 #9280000 を販売中
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ID: 9280000
ヴィンテージ: 2007
Fully automatic prober
Chuck, 12"
With temperature controller: Room°C-150°C
Single loader
(25) Cassettes
Auto wafer ID reader: ESI Bullet
Auto needle alignment / Auto wafer alignment
Auto card change
Needle cleaning pad: 150 mm x 150 mm
GP-IB Interface
Ethernet
Touch sensor for clean pad
Power supply: 200 VAC, 1 Phase
Missing parts:
Operating system: Windows 2000
FA0406 APC Control board
E1 CCD Camera
Temperature controller
ON/OFF Switch control board
Power supply module
2007 vintage.
TSK UF3000+MHF4000 proberは、可能な限り最高の試験精度とスループットを提供する汎用性の高い完全自動化されたProber装置です。このプローバは、基板上のさまざまなデバイスやコンポーネントを測定、テスト、分析することができます。高精度のリニアガントリーシステム、総合検査ライブラリ、強力な制御ユニットを備えています。UF3000+MHF4000プローバーは、マイクロメートルの解像度で動く高精度のリニアガントリーマシンと、デバイスのバリエーションに合わせて調整するアダプティブフィードバック制御ツールを備えています。これにより、プローバはターゲットとなるデバイスとコンポーネントの特性を正確かつ繰り返しスキャンおよび分析することができます。包括的な検査ライブラリにより、このプローバは粒度、抵抗、電圧、ピンからピンまでの時間など、さまざまなテストパラメータを読み取ることができます。UF3000+MHF4000プローバには、ACCRETECH Auto Probing Library (APL)と統合された直感的な制御アセットも装備されています。これにより、オペレータはプローバを素早くセットアップし、パラメータをテストするための調整を行うことができます。また、プローブチップをデバイスの表面に自動的に配置することもできますが、モデルの自動キャリブレーション機能により再調整が不要になります。さらに、Proberの交換可能な100/1368ピンアレイにより、幅広いデバイスやコンポーネントでツールを簡単に使用できます。UF3000+MHF4000 proberは、さまざまなデバイスやコンポーネントを基板上でテスト、検査、分析するための理想的なツールです。汎用性の高い機能、高精度のリニアガントリー機器、および包括的な検査ライブラリを備えたProberは、従来の試験方法のほんの一部で、対象となるデバイスとコンポーネントの特性を正確に見つけて分析できます。これは、エレクトロニクスおよび半導体産業のエンジニアや科学者にとって非常に貴重なツールです。
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