中古 ACCRETECH / TSK UF 300 #9281378 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 300 proberは、包括的な表面解析用に設計された最先端の半導体プロービングステーションです。TSK UF 300は、精密な一連のステップを通じて、半導体ウェーハの表面上のマイクロスケールおよびナノスケール構造の高品質の画像処理、可視化、および高速測定を提供します。ACCRETECH UF300は、低レベルの電気測定から、光によって誘発されるステップと検出の実証まで、最も複雑な戦略とコンポーネントを探索できる強力なプローバです。UF300はプローバのコアコンポーネントとして12 GHzまたは14 GHzオシロスコープを誇り、超高解像度でインピーダンス測定を行うことができます。また、高速画像処理用の高性能コンピューティングエンジンを搭載し、自動運転に最適化されています。Passport-VLスキャナやPassport-TWスキャナを含むスキャナは、これまでにない精度と迅速な標本登録で強化されたイメージングを容易にします。ACCRETECH/TSK UF300は、プローバ機能に加えて、周囲温度制御の可変、広範囲のウェハステージの可用性、使いやすいソフトウェアインターフェースなど、さまざまな機能を提供します。モニター上に修正情報を表示するHF誤り訂正機構により、細かい構造物の精度が向上します。最も要求の厳しいUF300には、さまざまな自動アクセサリ機能も備えており、さまざまなプロセス条件への適応プローブテストを可能にします。自動焦点測定・校正機能を搭載し、高速かつ高精度なLEDウエハ認識が可能です。TSK UF300は、研究開発チームにとって理想的なプロバーソリューションであり、半導体製造プロセスの効果的な品質管理を可能にし、デバイスの迅速なテストと測定を可能にするさまざまなイメージング、可視化、分析機能を提供します。Proberはリモートモニタリング機能も備えており、過酷な環境での動作を可能にします。最終的に、ACCRETECH/TSK UF 300は、さまざまなテストアプリケーションを通じて操作できる安全で信頼性の高いプラットフォームを誇っています。