中古 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9314176 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200SAは、小型サンプルの信頼性の高い処理用に設計されたプローバです。半導体デバイスや集積回路の効率的な試験を可能にする、基板上で最大200ピンのプローブが可能な完全自動化された装置です。プローバには走査型電子顕微鏡（SEM）カメラが搭載されており、優れたイメージング条件と故障モードの効率的な解析を提供します。また、内蔵レーザービーム干渉計（LBI）により、小型サンプルサイズ基板の高精度な3D測定が可能です。TSK UF200SAは、オープン/ショート試験や抵抗測定などの故障解析アプリケーションに最適です。プローバは、高精度の接触力測定を可能にし、優れたデータ精度と信頼性の高い接触結果を可能にします。また、高温でも均一な高速接触試験が可能な、精度の高い接触試験ピンを提供しています。プローバーの高度な単軸駆動機構により、試験精度が向上し、基板全体のプロービングプロセスが向上します。Proberは、直感的な制御とテストプログラミングのための使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイスを備えています。プログラミングプロセスを簡素化するAutoTestなど、さまざまなテストソフトウェアと互換性があります。さらに、ユーザーフレンドリーなセットアップシステムにより、テストパラメータのプログラミングが容易になり、セルフルーピングユニットによりテストスループットが向上します。さらに、ACCRETECH UF 200 SA独自のオペレーションマシンと専用ハードウェアは、優れたテスト実行を提供し、信頼性と正確なテストを保証します。UF 200 SA proberは最先端の設計と製造技術を利用しており、その部品は長期的な運用を提供することが証明された堅牢な材料で構成されています。プローバーには、真空チャック、保護ガラス、バネ付きピンなど、便利なアクセサリーが含まれています。すべてのコンポーネントは、特定のお客様の要件に適合するように交換可能でカスタマイズ可能です。Proberは、異なる自動試験装置（ATE）と互換性があり、オプションの温度制御および環境シミュレーションパッケージが付属しています。プローバーには、運転中のユーザーの安全を確保するために、緊急キーなどの複数の安全機能が装備されています。その温度制御ツールは、ユーザーがプロセスと製品の要件を満たすために温度安定性を維持することができます。部品は密封された単位の中で保たれ、塵および他の汚染物からの優秀な保護を提供します。TSK UF 200SA proberは、半導体試験および電子機器の製造およびエンジニアリングに不可欠なツールです。その信頼性の高いプリセット機能と高度な機能により、優れたテスト精度が得られ、集積回路の効率的で信頼性の高いテストが可能になります。使いやすいインターフェイスと高度なソフトウェアソリューションにより、テストプログラミングと分析プロセスが簡素化され、効率的で正確で効果的な結果が得られます。