中古 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9283907 を販売中
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ID: 9283907
ヴィンテージ: 2006
Prober
Platform: J750 / J750 EX
OCR Type: Type 4
Chuck
Temperature: 30°C - 150°C
Tray module: Tray
Clean unit, 2"
Docking type: J750
Docking kit: TERADYNE K Dock
PMI Function: PMI I
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200SAは、高性能で費用対効果の高い3D非接触表面および光学プローバです。幅広い半導体、MEMS、オプトエレクトロニクス検査および計測アプリケーションに最適なツールです。TSK UF200SAは、超平面及び高アスペクト比フィーチャーの完全なインライン3D非接触測定のために設計されています。ACCRETECH UF 200 SAは、優れた解像度と精度を提供する高度な光学および照明設計を統合しています。近赤外光学は、最小スポットサイズが2。5 μ m、再現性が0。5 μ m以上の特徴を測定することができます。また、革新的な3Dスキャニングレーザーオートフォーカスを使用しているため、高いアスペクト比と高いステップハイトを再現性で測定することができます。ACCRETECH/TSK UF200SAは高速データ取得・処理コントローラを搭載しています。非常に高い解像度を維持しながら、従来のプロファイラの最大70倍の高速データポイントをキャプチャできます。情報は、内蔵のプロファイルおよびライン解析機能を使用してさらに処理できます。これらの機能を組み合わせることで、UF 200 SAは幅広いアプリケーションで極めて厳しい公差のシステムを追跡することができます。UF200SAは使いやすく、プログラムも簡単で、多くの業界標準のコンピュータやオペレーティングシステムと互換性があります。これには直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスが含まれており、自動測定および分析プログラムの迅速かつ効率的な開発を可能にします。ACCRETECH UF200SAは、すべての光学プロファイラのニーズに最適なツールです。高度な光学と照明、高速データ取得と分析機能により、データを迅速かつ簡単に取得、測定、分析することができます。その内蔵プロファイルおよびライン解析機能により、精密で非接触表面およびオプトエレクトロニクス検査および計測アプリケーションに最適なツールです。
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