中古 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9274669 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200SAは、半導体デバイスの電気特性を解析・測定するために設計されたプローバです。高精度な測定システムにより、さまざまなプローブを活用した層対層測定装置を搭載しています。このプローバは、半導体部品、複雑なアセンブリ、ダイ、バンプ、パッケージなど、さまざまなサンプルで測定することができます。プローバーは、目的の結果を達成するために一緒に動作するいくつかの異なる部分で構成されています。ユニットの中心にはTSK UF200SA proberがあり、2つのポジショニングドライブが含まれており、プローブヘッドをサンプル上で正確にXおよびY移動させることができます。さらに、プローバには、サンプルの電気特性の小さな偏差を検出するために、ACおよびDC電流、電圧、および抵抗測定を利用する高周波測定機が含まれています。ACCRETECH UF 200 SA Proberには、プローブとチップ選択の拡張ライブラリも含まれており、さまざまなプロービングオプションが可能です。単一のレイヤー、複数のレイヤー、バンプ、またはパッケージを測定するかどうかにかかわらず、Proberには、分析を成功させるための幅広いプローブとヒントが含まれています。プローブは、手動操作を必要とせずにサンプルからテストプローブを保持し、持ち上げることができます。この複数のチップローディング技術により、テストピンを再配置する時間と労力を増やすことなく、最大200個のデバイスパターンを測定することができます。また、プローバーは統合ビジョンツールを備えており、テストプローブをマッチングサイトにスムーズかつ正確にアライメントできます。アセットはCCDカメラを使用して、各デバイスパッドをイメージし、イメージをproberのライブラリにマッチさせてサンプルを識別します。CADサンプルは、Proberのソフトウェアに簡単にロードおよび変更できます。さらに、統合されたイメージングモデルは、CCD画像を参照サンプルと比較することで、広範囲の欠陥を検査および検出することもできます。最後に、UF 200SAには、テストデータを作成し、データを分析して保存し、結果を迅速かつ効率的に評価するための柔軟なソフトウェアプラットフォームも含まれています。ソフトウェアは、テスト結果の分析、モデル化、およびレポート作成に使用できるさまざまなソフトウェアパッケージと互換性があります。さらに、ユーザーは外部コンピュータに接続することができ、データのさらなる分析を可能にします。UF200SAは、半導体デバイスの電気特性を測定するために設計された高精度で汎用性の高いプローバです。強力なソフトウェアプラットフォームと相まって、プローブ、ヒント、およびビジョン機器の幅広い選択は、毎回成功した分析と再現性のある正確なテストデータを保証します。