中古 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9119668 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200SAは、サンプルの表面を正確に測定および分析するために設計されたプローバーです。これは、ユーザーが正確にサンプルの表面を配置し、プロファイルすることができます手動XYステージとレーザーオートフォーカス機器が装備されています。200mm×200mmのスキャン面積を持ち、高解像度の大型サンプルを測定できます。TSK UF200SAのイメージングシステムは、高解像度2メガピクセルのCCDキャプチャと高いダイナミックレンジのイメージングを備えたCharge Coupled Device （CCD）カメラを採用しています。調節可能な光源と内蔵の光学系を備えており、正確な表面測定に最適化されています。プローバは、正確な測定のためのソフトウェアベースの制御と強力な画像解析機能を利用しています。画像解析機能には、表面トレース、補間、二層測定、zスコア計算などがあります。プローバーは、カメラと白色光源、デジタル顕微鏡、オートフォーカスユニットを内蔵して設計されています。オートフォーカス機は、サンプル表面を3次元空間に正確にマッピングすることができます。これにより、ユーザーは、サンプルの表面の非常に詳細でデジタル化されたマップをキャプチャすることができます。デジタル顕微鏡は、光学計測とデジタル画像相関を行う能力を有し、物理的な測定を行わなくても正確な結果が得られます。プローバーには、小さな領域で正確に測定できるデジタル信号処理ツールがあり、正確なスポットテストが可能です。プローバには6軸力センサユニットがあり、力信号と偏向の大きさを正確に測定できます。ユーザーは、付属の解析スイートのいずれかを使用して、ACCRETECH UF 200 SA proberでサンプルを分析できます。これらのスイートには、振動およびひずみ解析、周波数解析、および包括的な表面測定および分析スイートが含まれます。カーブフィッティングおよび表面解析ソフトウェアを使用すると、表面仕上げ、平坦度、平坦度、ピッチ精度などの表面特性を分析できます。ACCRETECH/TSK UF 200 SAは、金属やセラミックスからフェルト、ティッシュまで、幅広いサンプルを正確かつ詳細に分析できる汎用性の高いプローバです。直感的なユーザーインターフェイスと組み込みの解析スイートにより、正確な表面測定と分析が可能です。