中古 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9022207 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200SA proberは、多機能、高精度ウェハベースのプロービングシステムで、さまざまな用途に対応し、幅広いニーズに対応します。高速、精度、柔軟性、信頼性を兼ね備えています。このシステムは、インダクタ、コンデンサ、抵抗などの受動部品から、高速で高度な論理回路まで、半導体デバイスを検査および分析するように設計されています。また、アナログ、ミックスドシグナル、高速デジタルデバイスのプロービングおよびテストも可能です。TSK UF200SAは、高度なウェーハステージ、スキャナ、多数のセンサーで構築され、再現性と信頼性の高い動作を可能にします。スキャン面積は直径200mmで、パッド間の距離が最大250mmのデバイスに対応できます。プローバーには、優れた柔軟性と正確なマクロ位置制御を提供する4軸XYZRステージも装備されています。スキャナとステージの最高速度は400mm/sです。ウェーハステージは10ミクロンのフラットな位置決め精度と± 2。5ミクロンの再現性を備えています。また、角度範囲は± 10°で、従来のフラットパッドに加えて、角度依存のデバイス特性を測定することができます。このシステムはまた、上部と下部のデバイス表面を同時に検査することができる統合された顕微鏡を提供しています。最大倍率はx50で、一度に50mm2まで撮影できます。ウェーハプローバーにはレーザー干渉計などを搭載し、高精度かつ再現性を確保しています。上記に加えて、ACCRETECH UF 200 SAには、パフォーマンスを向上させるための高度な分析機能を提供する専用ソフトウェアが含まれています。Proberは、自動加速/減速制御や作業を高速化するためのタスクデータスワップなどのさまざまな最適化設定を提供し、接触選択のためのプログラム可能なアルゴリズムのおかげで信頼性が向上しています。ACCRETECH UF 200SA proberは、スピード、精度、効率を最適化するための実験室や生産エンジニアリング環境に最適なソリューションです。これは、市場で入手可能な最も汎用性が高く信頼性の高いプローバーの1つであり、あらゆる種類のデバイス特性評価に最適です。