中古 ACCRETECH / TSK UF 200S #9365979 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200S Proberは、集積回路の試験用に設計されたフルオートウェーハプローブステーションです。この装置は、テスト用の基板を自動的に配置し、ウェハマッピング機能を提供します。これは、単一のBT （BT=はんだペースト）カード上のスライスやチップなど、幅広い半導体基板のプローブに最適です。TSK UF200S Proberは、統合された環境制御システムと高速サーマルサイクリングを使用して、ウェーハ表面全体で一貫した温度を維持し、簡単な地形スキャンとウェーハダイシングを可能にします。自動化されたウェーハ位置決めユニットは、ウェーハ表面全体にわたって高速で正確なアライメントを提供し、生産およびエンジニアリングアプリケーションでも繰り返し可能なデータを提供します。プローバーには、4つの大型チャックプレートと、さまざまな基板に対応できる2つの小型チャックプレートが含まれています。統合されたコンタクトセンサーとアライメントカメラを使用して、正確で反復可能なプローブの位置決めとアライメントを保証します。ACCRETECH UF 200 S機械は高精度の口径測定および測定のために設計されており、可変的な調査の先端および注文の接触器の変数制御を支えます。ACCRETECH UF 200S Proberには特許取得済みの高速サイクルタイム機能が搭載されており、追加の計測が不要になり、プローブ時間が劇的に短縮されます。また、オンウェーハプロービングやオフウェーハ測定など、より優れたウェーハレベルのテストと特性評価結果を生成します。TSK UF 200Sプロービングツールは、マッピング用プログラム、電気テストデータの収集と分析、ウェーハソート、リバースエンジニアリングなど、包括的なソフトウェアツールによってサポートされています。完全に自動化され、統合されたテスト環境を提供することにより、この資産は手動による介入とエラーを排除し、効率を向上させます。TSK UF 200 S Proberは、エレクトロニクス製造および研究所での生産業務、品質保証、DFx、および特性評価タスクでの使用に最適です。環境制御、高精度キャリブレーション、繰り返し可能なデータ、および高速サイクルタイムの組み合わせにより、高度なテストおよび特性評価アプリケーションにおいて非常に貴重な資産となります。