中古 ACCRETECH / TSK UF 200R #9269335 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200Rは、故障解析、材料特性評価、プロセス監視のための高解像度イメージングを提供するために設計された専用プローブスキャニング電子顕微鏡（SEM）です。統合されたデジタルエレクトロニクスとユーザーフレンドリーな操作により、TSK UF200R多くのSEMアプリケーションに最適です。ACCRETECH UF 200 Rは、最大150nAの電子ビーム電流、1。7nmのソーススポット分解能、最大20,000X倍、最大10mmの視野の検出システムを提供します。また、照準ビームガイドとデジタルレチクルを備えており、ユーザーが興味のある領域を簡単に見つけることができます。また、20nmのLODで最大200nmの厚さのサンプルを撮影することもできます。TSK UF 200 Rは、可変角度傾斜段も備えており、幅広い角度測定が可能です。これには、データを正確かつ迅速に記録するための統合された測定システムが含まれており、ユーザーは試料の厚さ、観察モードを選択し、フォームを描画し、さまざまな励起モードを切り替えることができます。さらに、UF 200 Rには、イメージエディタ、マーカー、品質チェック、スペクトル分析、シネマティックエフェクト、カラーコントロールを含む包括的なイメージングおよび分析パッケージが付属しています。また、X線マイクロアナリシス、光学圧縮、元素マッピング、画像コントラスト強化などを行うための幅広い分析ツールを提供しています。ACCRETECH/TSK UF 200 Rは、最も複雑なSEMイメージングおよび解析タスクを容易かつ効率的に実行できます。コンパクトな設計、高速スキャン、洗練されたソフトウェアにより、品質管理、故障解析、材料特性評価、プロセス監視に最適なツールです。