中古 ACCRETECH / TSK UF 200R #293591573 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200Rは、最新の半導体デバイス生産と高度な研究の要求に応えるために開発された高性能ウェーハプローバです。TSK UF200R proberは、超高感度MEMSデバイスから複雑な高度なウエハアセンブリまで、幅広い半導体デバイスの検査とテストに使用できる、自動化された多機能デバイスです。ACCRETECH UF 200 Rは、高度な5軸メカニズムを備え、作業領域全体にわたって優れた精度と高速プロービングを提供します。このシステムは、プローブの配置を手動で調整することなく、任意の試験構造の高速プロービングを可能にします。オプションの光学計測ユニットにより、ACCRETECH/TSK UF 200 Rは最大8ミクロンの距離を正確に測定できます。UF 200Rの高度な光学計測機は、カスタマイズ可能な測定領域で構成され、超精密な非接触ピクセルドライブレーザーツールで測定されます。ACCRETECH UF200Rには、自動ズームアセットが内蔵されており、測定時に対象領域を自動的にズームインします。また、高度な定量的微細検査機能を備えており、最大500倍の倍率でシャープな画像をキャプチャできます。UF 200 Rは汎用性が高く、幅広いプローブ構成に対応できます。カンチレバープローブ、パラレルコンタクトプローブ、ウェハレベルバンププローブなど、選択したプローブセットを使用して平面および3Dデバイスをテストすることができます。これにより、テスト構成に最適なプロービングソリューションが利用可能になります。また、GaAs、 SiC、 InPなど、幅広いウエハサイズと基板に対応しています。また、TSK UF 200Rは、CCDカメラを内蔵したマシンビジョン装置を内蔵しており、試験構造の全自動検査が可能です。また、明るい/暗いフィールド測定、偏光によるコントラスト制御、イメージング、フルホワイトライト干渉測定など、さまざまなイメージングオプションもサポートしています。ACCRETECH UF 200Rは、複数の通信プロトコルを含むオープンインターフェースを介して簡単に制御および自動化され、ユーザーはシステムを既存の生産ラインに簡単に統合できます。最後に、UF200Rは高品質のコンポーネントで構築され、包括的なテクニカルサポートチームによって支えられ、信頼性の高い操作と優れたパフォーマンスを保証します。TSK UF 200 Rは、最も要求の厳しい要件にも対応するように設計されており、半導体デバイスのプロービングとテストのための市場でトップユニットソリューションの1つです。