中古 ACCRETECH / TSK UF 200D #9118412 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200Dは、ウェーハテストおよび計測アプリケーションに使用される最先端のプローバです。シリコンウェーハと非シリコンウェーハの両方のプロービング、マッピング、分析、検査用に設計されています。TSK UF 200Dは、ウェーハ表面の独自にマッピングされた領域におけるデバイスの電気特性を正確に測定できる完全自動プロービングシステムです。高いスループット、信頼性の高いテストプロセスを備えており、1つのウェハマップで最大7つの異なる電気パラメータを測定できます。ACCRETECH UF 200Dは、プロービング機能の面でさまざまなオプションを提供し、優れたテスト精度と柔軟性を提供します。デュアルセンサー構成により、最大7インチのウェーハ面積と、最大Z軸の200µmでウェーハ表面上を移動できる2レベルのセンサヘッドを備えています。これにより、さまざまなサイズやピッチ、さまざまなテスト構造、ソフトバンプや高アスペクト比などのさまざまな構造をプローブできます。プローバーには、0。3〜1。2mmの範囲でウェーハの厚さを測定するためのウェーハ厚モニタも含まれています。UF 200Dは、電気IV、 C-V、または漏れ電流試験などのさまざまな試験オプションも提供しています。電気特性への環境影響を低減できるアクセルボックスを採用し、試験結果の安定性を高めています。ウェハマッピングプロセスは、プロバーヘッドの動きを制御し、品質マッピングとテストのパフォーマンスを保証する独自のソフトウェアシステムを介して行われます。このシステムには、迅速かつ正確なサンプル配置を可能にするウェハチャックも装備されています。ACCRETECH/TSK UF 200Dは、信頼性と再現性に優れた性能を備えています。自己診断およびメンテナンス機能を提供するハードウェアおよびソフトウェア機能を備えており、ダウンタイムを最小限に抑え、プロセススループットを向上させます。また、品質保証の基準をISO9000し、ISO9001することも認証されています。全体的に、TSK UF 200D proberは、品質試験プロセスを実行し、最短時間で品質結果を提供するための正確で効率的で信頼性の高いソリューションを提供します。さまざまなプロービングアプリケーションに対応するために十分な汎用性があり、ウェーハの測定およびテスト要件に最大限の柔軟性を提供します。