中古 ACCRETECH / TSK UF 200AL #9233249 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200ALは、主に回路経路が0.5µm以下を測定する材料で、異なる材料伝導経路の最小の接触抵抗を測定するための近接フィールドプローバです。TSK UF200ALは、サンプルプローブおよびスイッチング操作、およびレーザー自動アライメントを備えた迅速な試験装置を備えています。また、セットアップ機能とデータ取得機能の両方を備えています。ACCRETECH UF 200 ALは、シングルコンタクト測定とグローバルコンタクト抵抗測定（最大8プローブ）の両方に対応しています。また、0.3µmのファインピッチボンドパッドなど、最大8種類のサンプルハンドリングアプリケーターを扱うことができるマルチアプリケータコンセプトも提供しています。UF 200 ALで使用されるプローブカードは、振動の影響を軽減するために内蔵のショックアブソーバを備えています。ACCRETECH/TSK UF 200 ALのスキャン顕微鏡は、波形キャプチャデータ収集機能を備え、最大500ナノメートルの測定精度を提供します。この顕微鏡は、ワイドまたはそれ以下の2µmの配線構造ポイントを区別することもできます。プローバーの優れた動作精度と振動減衰プローブにより、時間の経過とともに安定した測定が可能です。ACCRETECH UF 200ALの自動測定システムは、同じ測定カートリッジ内の多くの異なる伝導経路を測定するために使用されるデータフラックスおよびデータベース解析ユニットに基づいています。高度に自動化されており、再現性と精度を保証します。統合されたデータベースには、各試験点の測定パラメータが格納されており、これはテスト項目のフィクスチャ精度ごとに使用でき、複数のテストで調整されます。データベースにはテスト結果も保存され、ユーザーは結果を確認することができます。ACCRETECH UF200ALは、レーザー自動アライメントマシンも備えており、テストの再現性と精度を保証します。CPUツールと大型LCDディスプレイが付属しており、テストされた材料の高解像度画像を提供します。Proberはさらに、ユーザーが資産のデータにアクセスできるネットワーク接続を備えており、データのリアルタイム比較とレビューが可能です。ACCRETECH/TSK UF200AL proberは、さまざまな接触抵抗試験に理想的なソリューションであり、最小の接触抵抗であっても、優れた精度と再現性を提供します。マルチアプリケーターのコンセプトとデータベース解析モデルにより、高次元材料の接触試験に非常に適しています。堅牢な設計と簡単な操作により、ユーザーは可変条件下で製品をテストし、リアルタイムで結果を分析することができます。