中古 ACCRETECH / TSK UF 200A #9379001 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200Aは、超微細で正確で高解像度のプローバで構成されており、さまざまな小型で繊細な基板の試験に最適です。これは、ファインパッドピッチ、フラットおよび小径穴の反復的かつ正確なプロービングのために設計されています。プローバーは5µm精度の超微細な1µm分解能を備えており、繊細な部品の正確で高精度な試験を可能にします。最大9軸のモーションコントロールを備えた多軸メカニカルステージ装置を備えており、優れたスキャン精度と再現性を提供します。さらに、プローバーは最大5m/秒のプロービング速度を備え、さまざまな基板をテストするための15mm ±の移動を備えた高精度のX-Y-Z-R-Tシステムを備えています。また、プローバーは高精度のCCDイメージングユニットを備えており、小さなターゲットの精度とプローブの精度アライメントを可能にします。CCDマシンは、25mm x 25mmの視野を持つ1000万画素イメージセンサーと0。25 μ m/ピクセルの解像度を利用しています。さらに、CCDツールは、画像処理と3Dステッチをサポートしています。安全性と保護を高めるために、プローバーには自己保護資産が装備されており、プロービングポイントのいずれかでジャムが発生した場合、直ちにプロセスを停止します。このモデルはまた、バウンス接点に関係なくプローブのゼロ化を可能にし、基板の配列のテストを可能にするインテリジェント切断機能を備えています。最後に、Proberには使いやすいユーザーインターフェイスと幅広いソフトウェアツールが装備されており、テストプロセスの効率と精度を最大化するのに役立ちます。これらのツールには、スキャンエディタ、メディア編集ツール、フラクタル画像処理方法、およびユーザーコントロールパネルが含まれます。TSK UF200Aは、繊細な基板や材料の試験に理想的なソリューションであり、高い精度と精度を提供します。それは平らで、小さい直径の穴のテスト、良いパッドピッチのテスト、破片のテストおよび多くを含む広い適用のために適しています。優れた解像度と精度により、Proberは信頼性の高いデータをテストおよび収集するための優れた選択肢を提供します。