中古 ACCRETECH / TSK UF 200A #9171753 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200Aは、半導体部品の試験用に設計されたプローバです。このデバイスは、試験対象の任意のデバイス（DUT）の物理特性を測定することができる完全自動化された表面解析ツールです。表面形状、シート抵抗、フィルム特性などがあります。すべての測定はリアルタイムとポストモーレムモードで行われ、ポストモーレムモードは画像解析を特徴としています。TSK UF200Aは、高解像度高速光学顕微鏡システムを搭載し、幅広いサンプルの解析が可能です。これには、カーボンおよび金属ナノレイヤーに加えて、デバイス表面の保護層と非保護層の両方が含まれます。この顕微鏡システムは、表面粗さ、地形特性、および表面エネルギーなどのサンプルパラメータを測定することができます。これらの測定を容易にするためにACCRETECH UF 200 Aには、必要な照明を提供する高性能レーザーが装備されています。ACCRETECH UF 200Aは、さまざまな表面特性を測定するためのプローブの幅広い選択を備えています。これらのプローブは0。4mmから200mmの範囲で、温度、表面電荷ダイナミクス、腐食、および電気伝導性などの特性を測定できます。このデバイスは、プローブとサンプル表面のデュアルモードコンフォーマルコーティングも備えており、接触測定と非接触測定の両方を可能にします。最高レベルの精度を確保するために、ACCRETECH/TSK UF 200 Aには、試験中のサンプルと相互作用するいくつかの異なるセンサーが装備されています。これらには、抵抗性、容量性、光電、および誘導性センサが含まれます。このデバイスはまた、統計分析を含むカスタムパラメータ分析を可能にする包括的な分析ソフトウェアパッケージを提供します。UF200 Aは半導体産業で使用するために設計され、生産の研究および製造段階の両方で使用することができます。ACCRETECH UF200Aは、包括的な機能セットと汎用性の高いプローブを備え、任意のDUTの物理的特性を評価するための効果的なツールです。