中古 ACCRETECH / TSK UF 200A/AL #293642597 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200A/ALは、半導体回路の評価に使用されるプローバです。ウェーハやその他の基板上のプローブパッドと接触するために特に使用されます。その設計には、試験片の位置決め、高精度光学顕微鏡、高解像度光学エンコーダ、プロービングインターフェイス用の電動XYステージが組み込まれています。XYステージは、2つの高精度の線形軸、XとYで構成されており、テスト中のデバイスに対するプローブの位置を正確に調整します。プロービングポイントが適切に整列し、プローブパッドと接触するようにするために、光学顕微鏡が使用されます。この顕微鏡は、プローブを動かすためのズーム機能も備えています。オプティカルエンコーダは、プローブ先端の動きに高解像度の位置フィードバックを提供し、プロービングプロセス中の精度を確保するために使用されます。TSK UF200A/ALには、チャック、チップ、ウェハークリップを含むプロービングインターフェイスが装備されています。チャックはプローブチップをサポートし、ウェーハクリップはウェーハをしっかりと固定します。チャックとクリップを電気的に調整して、プローブ先端の正確な位置を確保できます。ACCRETECH UF 200AALは、単点から多点プロービングまで、幅広い確率能力を提供します。また、複数のプロービングプロセス間に格納するためのメモリも内蔵しています。ACCRETECH UF200A/ALは、商業グレードの精度と信頼性のために設計されています。これは、高温や化学物質の範囲などの過酷な環境条件に耐えることができます。さらに、この設計により、プロービングプロセスが振動しないようになり、プローブ接触損傷のリスクを最小限に抑えます。全体として、TSK UF 200A/ALは、半導体回路を正確に測定、評価、監視するために設計された汎用性の高いプローバです。その幅広い機能により、エレクトロニクスおよびモータリング業界のアプリケーションに最適です。高解像度の位置決め、精度、信頼性により、ACCRETECH UF 200 A/ALは半導体デバイスの完全性を測定およびテストするのに最適なソリューションです。