中古 ACCRETECH / TSK UF 2000 #9251564 を販売中
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販売された
ID: 9251564
ヴィンテージ: 2011
Prober, 5"-8"
ARTS-HS Thermal unit included
Temperature range: -40°C to +150°C
Main control system: Pentium 4, 2.0 GHz (P/N: 293100)
Hard Disk Drive (HDD): 40GB
Operating system: VxWorks (P/N: 247853)
UF2000 O/S Rev: S5.13.08 or higher
Magneto optical disk drive / USB (P/N: 247850)
Head stage for NEXTEST Magnum / TERADYNE J750 Adapter ring
(25) First and second cassette loader wafers (5"-8" Wafers)
Includes with PC unit :
COGNEX 8500 Vision system
Align and PMI
Manual wafer inspection transfer unit
Dual robotic wafer transport arms
Pre-alignment stage unit
Capacitive non-contact displacement sensor (P/N: 293311)
Advanced wafer alignment unit
Dual moire scales (X and Y)
High rigidity Z stage
Color LCD control panel with touch panel switches (P/N: 248900)
Alarm lamp pole (P/N: 247820)
Nickel plated cold chuck, 8" (P/N: 249015)
ARTS-HS Chiller unit (ACCRETECH Rapid Thermal System High Speed)
Wafer ID recognition option: Type 6 OCR
Needle cleaning option (Block type: 100 mm x 200 mm and brush)
Probe mark inspection option
Multi site parallel probing option (128 DUT)
GP-IB Interface option: Standard ACCRETECH command
Light VEGA network management option for product recipe management (Ethernet interface included)
Compliance S2-93
Smart PMI Option
Remote terminal option: Full remote control
System level change log option
Automatic PC changer
2011 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 2000は、さまざまな材料および半導体ベースの製品をテストおよび特性評価するために特別に設計されたプローバです。超高精度の試験・測定装置で、極端なサブミクロンレベルのスレッドをスピードと精度でキャプチャすることができます。ステッパー、ロングストロークのリニアプロファイリング、高解像度コンタクトスタイルのプロフィロメーターなど、さまざまな独自のツールを備えた完全自動化されたテスト環境で、サンプルを動的に行使できます。TSK UF 2000 proberには、特許取得済みの自動タブ負荷システムがあり、インラインまたは複数のサンプルを実行し、変更を迅速かつ正確に読み込みます。さらに、出力アライメントとゼロポイントキャリブレーションに使用されるデュアルカラービジョンユニットを備えており、より正確で迅速なテストを可能にします。また、耐衝撃性オートメーション、防塵ハウジング、密閉パーティクルアイソレータも備えています。密閉されたパーティクルアイソレータは、試験環境への汚染物質の侵入を防ぎ、結果に影響を与えます。ACCRETECH UF2000 proberは、最小限のオペレータ介入で動作するように設計されています。自動化されたウェーハローディングマシン、オプションのウェーハマッピングツール、およびオプションのテスト時間最小機能を備えています。オプションのウェハマッピングアセットを使用すると、PCまたはタブレットから1つのコマンドでウェハ全体をマッピングできます。オプションのテスト時間最小機能により、各サンプルの最小テスト時間を指定することで、テスト時間を短縮できます。UF 2000 Proberは、ファインピッチプロービング、高度なウェーハルーティング、3Dサーフェスプロファイリング、ダイモデル測定、4roofスキャンなど、さまざまな測定機能を提供します。また、ストロボライト、温度コントローラ、その他の測定器などのデバイスとのインターフェースも可能です。それはモデルが耐久および信頼できるであることを保障するのを助ける険しいアルミニウムおよび鉄骨フレームの組み立てられます。ACCRETECH UF 2000 Proberは、ビジョンシステム、自動車部品、半導体部品、その他の材料の試験および特性評価に最適です。その高度な自動化と精度により、さまざまな業界の部品性能を検査および予測するための不可欠なツールとなります。サンプルの性能を分析するために細かいディテールを正確かつ迅速にキャプチャできる信頼性の高い機器です。
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