中古 ACCRETECH / TSK UF 200 #9283877 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200 Proberは、半導体検査試験機であり、エンジニアが生産工程にいる間に集積回路（IC）の品質を評価できるように設計されています。様々な先進技術を駆使し、小型パスやデバイスの電気特性を測定する高精度・自動化された装置です。このシステムは、一度に最大200個のウェーハをテストおよび監視するように構成でき、スループット速度は毎分20個までです。これにより、手動でウェーハを移動または変更する必要がなく、簡単で効率的なテストが可能になります。TSK UF 200 Proberにテストを速く、正確にさせるように設計されているいろいろ異なった特徴があります。このユニットは2つの独立したプロービングステーションを使用しており、それぞれに500mm x 500mmのプローブウィンドウと最大4。5mmのスキャンエリアがあります。各ステーションには独自の高解像度カメラがあり、試験中のプローブの正確な位置決めと検査が可能です。また、プローブ接触とウェーハ表面接触のための正確な設定を備えた自動接触アルゴリズムも含まれており、正確で正確なテストを保証します。さらに、Ohmic、 MOSFET、 Electron Mobility Measurement （EMMT）など、さまざまなデバイスにさまざまな設定を使用します。これにより、毎回正確で正確なテストが保証されます。ACCRETECH UF200 Proberには、テストと検査を最適化するために設計されたさまざまな追加機能もあります。これは、ウェーハの動きを防止することによって安定した、一貫したテストを確実にするのに役立ちます回転および振動メカニズムを含む多くのオプションの付属品を持っています。このツールには、ウェーハの正確な位置を維持し、正確なテストを確実にするための輪郭プリアライメント機能も付属しています。さらに、ウェーハ欠陥マッピング資産も含まれています。これは、検査対象のICで起こりうる問題をエンジニアが特定して特定するのに役立ちます。ACCRETECH/TSK UF200 Proberには、テストプロセスのエンジニアを支援するためのソフトウェア機能も多数あります。このモデルには、さまざまな統計分析ツールとレポート作成オプションが付属しており、エンジニアがテストプロセスを詳細に調査できるようにします。この機器にはハードウェアデバッグシステムも含まれており、エンジニアはICの潜在的な問題を迅速かつ正確にトラブルシューティングできます。最後に、リモートアクセスをサポートし、エンジニアは任意の場所からユニットを監視および制御することができます。全体的に、UF 200 Proberは、製造プロセスにおけるICのテストと検査のための多目的で効率的で精密な機械です。さまざまな機能を備えており、高精度の試験と検査をお探しのエンジニアリングチームに最適です。その高いスループット率と精度は、研究開発から大量生産まで、あらゆる環境に最適です。